具備高速掃描3D重建功能的ZeeCam系列3D數(shù)字顯微鏡相機

ZeeCam系列3D數(shù)字顯微鏡相機可與立式或倒置材料顯微鏡兼容。無需顯微鏡修改或其他附件，可以使用所有類型的物鏡放大倍率和數(shù)值孔徑。

ZeeCam隨附GetPhase軟件，其中包括用于Z深度測量，3D表面形貌，粗糙度和臺階高度測量的綜合工具，并成功用于以下應用領域：金屬涂料、電子涂料、陶瓷聚合物、半導體材料、寶石學、博物館、法醫(yī)。

ZeeCam系列3D數(shù)字顯微鏡相機可進行快速精確的z向掃描，該3D顯微鏡相機使用專用的光學組件進行3D掃描，集成了新型數(shù)字透鏡技術，從而取代了傳統(tǒng)的電動手段，例如步進電機或壓電設備等，從而實現(xiàn)了Z軸方向上精確且高度可重復的3D采集和分析。

快速準確的3D表面計量：

ZeeScan和Getphase以一種快速和簡單的方式進行三維采集和分析。非接觸光學表面輪廓具備很高的可重復性。

-納米和微米范圍內(nèi)的范圍表面分析

-從光滑到粗糙的表面檢測能力

-ISO粗糙度和臺階高度測量

-快速采集和處理時間的高通量

強大的成像功能：

可以自動實現(xiàn)高分辨率圖像的Z向疊加，提供圖像融合圖像（擴展景深圖像、Z深度測量或三維重建）。此外，GetPhase還提供了二維測量和圖像文檔工具。

-無需專門的光學器件即可顯示出細的結(jié)構細節(jié)

-單擊具有多個視圖的圖像文檔

-自動圖像融合（擴展景深）

-2D測量和報告

ZeeCam系列3D數(shù)字顯微鏡產(chǎn)品規(guī)格：

3D測量性能：

c-mount耦合器的放大倍數(shù)是取決于Z范圍和分辨率的客觀因素。下表給出了使用1X耦合器進行標準物鏡放大的典型性能。 對于任何其他放大倍率和/或c-mount耦合器配置，可以采用以下公式：Z Range = 16mm / (G_Obj * G_adapt)2 Z Resolution = Objective Depth Of Field /4

G_O = Objective magnification    G_adapt = c‐mount coupler magnification

-Z軸精度：1 %

-Z軸可重復性：0.35 %

-坡度：90°

-由相機分辨率和物鏡放大率確定XY空間分辨率

粗糙度測量：

共提供了12個分析參數(shù)，包括常用的Ra（Sa)，Rq（Sq)，Rz（Sz)等參數(shù)。且參數(shù)符合ISO 4287, 25178 DIN 4768標準。

-測量范圍：Ra，Rq：0.01-500 µm

-測量準確度: ≤±10%

-測量重復性：≤6%

軟件：

GetPhase®GUI軟件（隨附）與Windows 8、7，XP和Vista兼容。 GetPhase®提供

從自動采集到2D / 3D圖像分析，以及文檔和報告生成的全面工具?？蛇x的API / SDK包括ZeeScan采集控件，Z-stack例程，3D重建，EDF，DIC，相位和3D表面分析。