德國TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀(相干掃描干涉儀),具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測(cè)量系統(tǒng)非常適合非接觸式測(cè)量大面積表面和結(jié)構(gòu),甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺(tái)階高度和平行度。
作為一個(gè)完整的測(cè)量站,TopMap Metro.Lab 是您想要測(cè)量幾乎所有表面上的大面積外形的上乘解決方案。即使在困難條件下,70mm 的大垂直測(cè)量范圍也允許您使用亞納米分辨率進(jìn)行測(cè)量。
由于 TopMap Metro.Lab 物超所值,無論是用于計(jì)量實(shí)驗(yàn)室或是靠近生產(chǎn)現(xiàn)場的地方,都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統(tǒng)進(jìn)行處理的任務(wù)。與所有TopMap系統(tǒng)一樣,開放式的軟件架構(gòu)還允許您編制常規(guī)任務(wù)或設(shè)置自己的用戶界面。
產(chǎn)品亮點(diǎn):
1、由于光學(xué)干涉測(cè)量原理,它屬于非接觸式
2、遠(yuǎn)心鏡頭讓測(cè)量陡峭部分(例如鉆孔)成為可能
3、70 mm 的范圍,非常靈活
4、快速測(cè)量大面積
5、增強(qiáng)版的大面積測(cè)量范圍可達(dá)約 80 x 80 毫米
6、易于使用的自動(dòng)化軟件,生成 DIN / ISO 合規(guī)性參數(shù)
7、具有智能表面掃描功能,適用于幾乎所有表面,即使是那些具有參差不齊反射率的表面
8、可集成在防塵防振工作站中,用于機(jī)器大廳
/