產(chǎn)品名稱 轉(zhuǎn)臺(tái)用溫控箱 產(chǎn)品型號(hào) HZ-XY-ZT-125 HZ-XY-ZT-200 HZ-XY-ZT-250 HZ-XY-ZT-365 內(nèi)箱容積 升/L 125 200 250 365 內(nèi)箱尺寸 W*H*D(cm) 50×50×50 60×60×60 65×65×65 75×65×75 轉(zhuǎn)臺(tái)類型 雙軸轉(zhuǎn)臺(tái) 轉(zhuǎn)角范圍 內(nèi)環(huán):連續(xù);外環(huán):連續(xù) 性能指標(biāo) 溫度范圍 A、-70℃~150℃ B、-80℃~150℃ 溫度波動(dòng)度 ±0.5℃ 溫度均勻度 ≤2.0℃ 溫度偏差 ≤±2.0℃ 升溫速率 ≥2.0/5.0/10.0℃/min 降溫速率 ≥2.0/5.0/10.0℃/min 制冷方式 壓縮機(jī)制冷 冷卻方式 F、風(fēng)冷 W、水冷 機(jī)組安裝方式 室內(nèi)一體式、室內(nèi)分體式、室外分體式
轉(zhuǎn)臺(tái)用溫控箱適用于航空航天電子等行業(yè)對(duì)運(yùn)動(dòng)中的試件進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn),檢驗(yàn)試件在實(shí)際運(yùn)動(dòng)中的可靠性。
滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗(yàn)方法
GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
主要技術(shù)指標(biāo):