詳情介紹
執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法:
GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423. 1-2008 試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B:高溫
GJB150.3A-2009 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 第4部分:低溫試驗(yàn)
適用于電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表、材料、元器件的高低溫及儲(chǔ)存試驗(yàn)