蔡司Gemini系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡,具有出色的探測效率,能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像,適用于多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是可變真空模式下,對任意樣品進(jìn)行成像時(shí)都具有更高的表面細(xì)節(jié)信息,,可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像。為生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室、成像平臺、高?;蜓芯繖C(jī)構(gòu)提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微技術(shù)與解決方案。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]
ü 出色的檢測效率
ü 優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度
ü 智能的自動(dòng)功能,一鍵實(shí)現(xiàn)聚焦,像散,電子束對中的自動(dòng)調(diào)節(jié)
ü 智能的電子光學(xué)設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)光闌優(yōu)化,提高低電壓下的分辨率
ü 倍數(shù)可達(dá)1X的大視野模式,可拍攝大樣品及導(dǎo)航至感興趣區(qū)域
ü 的無漏磁鏡筒,輕松應(yīng)對磁性材料表征
ü 對稱的EDS接口設(shè)計(jì),可滿足無陰影EDS圖像的采集豐富的拓展性能
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]
ü 材料科學(xué),如納米材料表征
ü 工業(yè)應(yīng)用,如失效分析,性能分析
ü 生命科學(xué),如大體積細(xì)胞高通量成像
ü 電池領(lǐng)域,如老化分析、電極材料表征
ü 電子半導(dǎo)體領(lǐng)域,如半導(dǎo)體器件失效分析
磁性FeMn納米顆粒,圖中立方體的邊長約25nm,1kV
分子篩上搭載納米銀顆粒,左圖為Inlens SE探測器成像,右圖為EsB探測器的成分襯度像,1.5kV
鋰電池隔膜在低溫 -160°下進(jìn)行成像
三枚硬幣可以在同一視野下進(jìn)行觀察
EsB探測器FinFET晶體管成像
STEM探測器小鼠大腦組織切片明場成像