使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 概述

參數(shù)查看，快速清晰。

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測(cè)試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%，提供清晰且不折不扣的測(cè)量和分析功能。 另外，嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)（業(yè)界）可提供測(cè)試指南并讓您對(duì)結(jié)果充滿信心。

特點(diǎn)

• 內(nèi)置測(cè)量視頻采用英語(yǔ)、中文、日語(yǔ)和韓語(yǔ)
• 使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開(kāi)始您的測(cè)試
• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測(cè)量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換，無(wú)需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測(cè)試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

• 無(wú)需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
• 用戶可配置低電流功能
• 個(gè)性化輸出通道名稱
• 查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

檢定、 自定義、 。

簡(jiǎn)單地說(shuō)，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級(jí)，您可以對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無(wú)源組件、晶片級(jí)可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評(píng)估。

特點(diǎn)

• NBTI/PBTI 測(cè)試
• 隨機(jī)電報(bào)噪聲
• 非易失內(nèi)存設(shè)備
• 穩(wěn)壓器應(yīng)用測(cè)試

帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

• “點(diǎn)擊”測(cè)試定序
  
• “手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能
  
• 假探測(cè)器模式無(wú)需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試
  

降低成本并保護(hù)您的投資

吉時(shí)利保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。 只需點(diǎn)擊一下或一個(gè)電話即可獲得維修服務(wù)，在此過(guò)程中，無(wú)需報(bào)價(jià)或填寫采購(gòu)單，也不會(huì)有審批延誤。

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 規(guī)格

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 應(yīng)用

半導(dǎo)體可靠性

在執(zhí)行復(fù)雜的可靠性測(cè)試時(shí)，4200A-SCS 可以幫您處理復(fù)雜的編碼工作。 內(nèi)含熱載波注入劣化 (HCI) 等項(xiàng)目，使您能夠快速開(kāi)始設(shè)備分析。

特點(diǎn)

• 只需一組測(cè)試，即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測(cè)量需求
• 支持多種探頭站和外部?jī)x器
• 循環(huán)系統(tǒng)易于使用，允許在無(wú)需編碼的情況下重復(fù)測(cè)試

提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過(guò)僅使用源測(cè)量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用，同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測(cè)量。

特點(diǎn)

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度
• 3? 位典型分辨率，最小典型值 10 fF

非易失內(nèi)存

通過(guò)全面脈沖 I-V 檢定在測(cè)試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測(cè)試，從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測(cè)量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。


VCSEL 測(cè)試

4200A-SCS 中的多個(gè)并行源測(cè)量單元 (SMU) 儀器可簡(jiǎn)化激光二極管測(cè)試。 僅使用一臺(tái)機(jī)器連接即可生成 LIV（光強(qiáng)-電流-電壓）曲線。 高級(jí)探頭站和開(kāi)關(guān)支持使您能夠使用相同的儀器對(duì)單個(gè)二極管或整個(gè)陣列進(jìn)行晶圓生產(chǎn)測(cè)試。 SMU 可配置為高達(dá) 21 W 容量，適用于多種連續(xù)波 (CW) VCSEL 應(yīng)用。


納米級(jí)設(shè)備檢定

4200A-SCS 的集成儀器功能可簡(jiǎn)化碳納米管等納米級(jí)電子器件開(kāi)發(fā)方面的測(cè)量要求。 從預(yù)配置測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)始著手，逐步擴(kuò)大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過(guò)熱問(wèn)題，數(shù)秒內(nèi)即可完成與低電壓 C-V 和超快速脈沖直流測(cè)量的組合。


材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過(guò)四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測(cè)量電阻率。內(nèi)含測(cè)試可自動(dòng)重復(fù)執(zhí)行范德堡計(jì)算，節(jié)省您寶貴的研究時(shí)間。10aA 的電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。


MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過(guò)組件或晶圓測(cè)試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測(cè)試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動(dòng)離子濃度等問(wèn)題。 只需觸摸一個(gè)儀器盒中的按鈕，即可運(yùn)行所有這些測(cè)試。

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 模塊