高溫塊體壓電分析儀
高溫塊體壓電分析儀主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣的全mian電性能和機(jī)電性能的表征。
壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在定溫度范圍內(nèi)表征。樣上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)**的虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣的微位移同時(shí)通過(guò)激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。
應(yīng)用：
材料性能的研究與開(kāi)發(fā)
器件質(zhì)量
大信號(hào)和小信號(hào)測(cè)試
溫度依賴性測(cè)試
可靠性和疲勞試驗(yàn)
漏電流測(cè)試
優(yōu)點(diǎn)：
個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的壓電和鐵電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升服務(wù)，用戶支持
特點(diǎn)：
支持的硬件：
內(nèi)置或外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器（如激光干涉儀、電容或電感）
外置鎖相放大器或阻抗橋
測(cè)試功能：
大信號(hào)電化和位移（單化和雙化）
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單和雙直流偏壓
電性能和機(jī)電性能隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
阻抗測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形
軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過(guò)aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。
公司主要研發(fā)、制造和銷售的儀器有：電壓擊穿試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、鐵電材料測(cè)試儀器、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、表面及體積電阻率測(cè)試儀、壓電材料測(cè)試儀器、熱電材料測(cè)試儀器、絕緣材料電性能檢測(cè)設(shè)備、高溫管式爐/反射爐/氣氛爐、高溫電性能測(cè)試設(shè)備、EST靜電檢測(cè)儀器、硅橡膠/絕緣子行業(yè)測(cè)試設(shè)備、PCB/三防漆電子材料測(cè)試、電氣薄膜電學(xué)檢測(cè)儀器、高低壓電氣材料測(cè)試設(shè)備、電線電纜行業(yè)電學(xué)測(cè)試設(shè)備、高分子材料電學(xué)測(cè)試儀器、熱分析儀器、電氣安規(guī)檢測(cè)儀器、半導(dǎo)體芯片類測(cè)試儀器、新能源汽車行業(yè)、電子行業(yè)、傳感器測(cè)試儀等，可接定制儀器訂單。
