半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
系統(tǒng)概述
IGBT是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開關(guān)器件,其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及電磁兼容性,直接影響變換器的性能。因此準(zhǔn)確測(cè)量功率開關(guān)元件的開關(guān)性能具有極其重要的實(shí)際意義。
半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)是針對(duì)IGBT器件的開關(guān)性特性及IGBT內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復(fù)特性而專門設(shè)計(jì)的一套全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關(guān)時(shí)間測(cè)試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復(fù)特性的測(cè)試。
基礎(chǔ)規(guī)格
環(huán)境溫度:25~35℃
相對(duì)濕度:小于75%
大氣壓力:86Kpa~ 106Kpa
電網(wǎng)電壓:AC220V±10%無嚴(yán)重諧波
電網(wǎng)頻率:50Hz±1Hz
參數(shù)/條件
IGBT開通特性測(cè)試 | IGBT關(guān)斷特性測(cè)試 | 測(cè)試氣動(dòng)夾具 | |||
測(cè)試參數(shù) | 開通延遲 tdon | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | 關(guān)斷時(shí)間tdoff | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | 壓力: 5000PA的品牌空壓機(jī)供氣。 控溫范圍: 25℃-200℃ 控溫精度: ±1.0℃±1% 器件接觸: 20個(gè)探針的接觸矩陣
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上升時(shí)間 tr | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | 下降時(shí)間tf | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | ||
開通能量 Eon | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | 關(guān)斷能量Eoff | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃ | ||
測(cè)試條件 | 集電極電壓Vce | 50-3500V±5% 根據(jù)用戶要求定制 | 集電極電壓Vce | 50-3500V±5% 根據(jù)用戶要求定制 | |
集電極電流Ice | 50-1500V±5% 根據(jù)用戶要求定制 | 集電極電流Ice | 50-1500V±5% 根據(jù)用戶要求定制 | ||
負(fù)載L | 20-1000uH | L負(fù)載 | 20-1000uH | ||
柵極電壓Vge | ±15V±3%±0.2V | ||||
短路測(cè)試Sct | 一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA | ||||
二極管反向恢復(fù)測(cè)試Drr | 反向恢復(fù)電流 / 反向時(shí)間 / 反向di / dt |
雪崩耐量測(cè)試系統(tǒng)
概述
雪崩耐量測(cè)試儀是測(cè)試IGBT、MOSFET、二極管雪崩耐量的專業(yè)測(cè)試設(shè)備,能夠準(zhǔn)確快速的測(cè)試出IGBT、MOSFET、、二極管的雪崩耐量。該設(shè)備包括:可控直流電源、可選電感、電流傳感器、電壓傳感器、雪崩保護(hù)電壓、IGBT、MOSFET、二極管等功率型器件、IGBT、MOSFET、二極管功率型器件保護(hù)電路、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、雪崩電壓采集系統(tǒng)、雪崩電流采集系統(tǒng)、測(cè)試夾具、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)適配器、外接測(cè)試端口(根據(jù)客戶需求)等多個(gè)部分。
規(guī)格/環(huán)境要求
電壓頻率:50Hz±1Hz
環(huán)境溫度:25~35℃
工作濕度:溫度不高于+30℃時(shí),相對(duì)濕度5%-80%。
溫度+30℃到+50℃時(shí)相對(duì)濕度5%-45%,無冷凝。
工作電壓:AC220V±10%無嚴(yán)重諧波
系統(tǒng)功耗:320W
技術(shù)指標(biāo)
配置 | 測(cè)試范圍 | 測(cè)試參數(shù) | 條件 | 范圍 | |
電壓 1000V | IGBTs 絕緣柵雙極型晶體管 | EAS/單脈沖雪崩能量 | VCE | 20V-4500V | 20-100V±3%±1V 100-1000V±3%±5V 1000-4500V±3%±10V |
電流 200A | MOSFETs MOS場(chǎng)效應(yīng)管 | EAR/重復(fù)脈沖雪崩能量 | Ic | 1mA-200A | 1mA-100mA±3%±0.1mA 100mA-2A±3%±5mA 2A-200A±3%±50mA |
DIODEs 二極管 | IAS/單脈沖雪崩電流 | Ea | 1J-2000J | 1J-100J±3%±1J 100J-500J±3%±5J 500J-2000J±3%±10J | |
PAS/單脈沖雪崩功率 | IC檢測(cè) | 50mV/A(取決于傳感器) | |||
感性負(fù)載 | 10mH、20mH、40mH、80mH、100mH | ||||
重復(fù)間隙時(shí)間 | 1-60s可調(diào)(步進(jìn)1s)重復(fù)次數(shù):1-50次 |