商品詳情
產品介紹:
的納米領域研究利器。*的三軸分離設計，既保證了XYZ三個方向無耦合效應，從原理上消除了平面扭曲誤差；同時獨立的Z軸掃描器，實現了真正的非接觸式掃描，極大地擴展了樣品適用范圍。自上而下的直視光路，方便用戶對探針和樣品的觀察，專門設計的探針安裝方式，簡化了光路調整過程，降低了操作難度。
產品特點:
精確的XY方向掃描，*消除了交叉耦合誤差
獨立的閉環(huán)XY平板式掃描器和Z軸掃描器
全掃描范圍水平線性誤差小于2nm
精確的高度測量
真正的非接觸掃描莫使延長了探針壽命，保證了高分辨率，保護了樣品
Z軸伺服速度相比管式掃描器提高了10倍
非接觸模式降低了探針磨損，延長了探針壽命
成像分辨率由于同類原子力顯微鏡
增強了樣品兼容性，提高了掃描精度
的功能拓展方案
支持多種SPM模式
多種可選配測量模式
多種可選配件，的拓展性
便利的操作設計
開放式樣品空間，樣品及探針更換極為方便
預對準探針安裝與同軸光路設計方便激光調整
燕尾鎖設計方便掃描頭拆卸
產品圖片
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規(guī)格參數
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