產(chǎn)品概述
三目正置金相顯微鏡XJ-56C采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),可選配暗場(chǎng)裝置和微分干涉裝置,輕易實(shí)現(xiàn)暗場(chǎng)觀察、DIC微分干涉觀察等功能。導(dǎo)柱升降裝置,可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件表面的金相組織結(jié)構(gòu)與工件表面質(zhì)量進(jìn)行顯微觀察,主要用于零件,集成電路,包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)??偡糯蟊稊?shù):50X-600X
性能特點(diǎn):
1、立柱高度可調(diào),尤其適合不同高度的大工件金相組織級(jí)表面觀察。
2、采用了當(dāng)今較為*的無限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì),提供了優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)。
3、無限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)物鏡和大視野平場(chǎng)目鏡,視場(chǎng)寬闊平坦清晰。
典型應(yīng)用:
1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
2、電子廠PCB板、芯片檢驗(yàn)。
3、觀察材料表面的某些特性, 如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。