產(chǎn)品概述
科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C采用優(yōu)良的無限遠光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現(xiàn)暗場和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學(xué)要求的理想設(shè)計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金屬、巖礦內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織的鑒定和分析，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應(yīng)用在工廠、實驗室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、工程學(xué)研究的理想儀器。總放大倍數(shù)：50-800X
科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C性能特點：
1、采用了*的無限遠光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，提供了優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)。
2、整機了采用防霉處理，保護了光學(xué)元件延長了儀器使用壽命。
3、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡配置，視場平坦。
4、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置，拓展了功能。
5、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C典型應(yīng)用：
1、鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
2、電子工廠PCB板檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻。
