鍍層厚度測厚儀

一、產(chǎn)品概述

產(chǎn)品類型： X熒光光譜儀 

產(chǎn)品名稱： 鍍層測厚儀直銷   (可選配鍍液檢測，RoHS檢測，合金分析功能）

型    號： iEDX-150WT 

二、產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達(dá)5層。

2. 對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準(zhǔn)確分析0.2-0.5uin的金層。

3. 可同時(shí)進(jìn)行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4. 可同時(shí)進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，

5. 可同時(shí)進(jìn)行選配合金成分分析功能。

6. 開槽式超大可移動全自動樣品平臺610*525 (長*寬)，樣品移動距離可達(dá)112*2X5mm(長*寬*高) ；專為線路板行業(yè)研制。

7. 激光定位，可以連續(xù)自動多點(diǎn)程控測量；

8. 可以選配多準(zhǔn)直器系統(tǒng)，單準(zhǔn)直器/6個(gè)準(zhǔn)直器/7個(gè)準(zhǔn)直器。

9. 可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料；

10. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；

11. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析；

12. 操作簡單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果（20-40秒）；

13. 標(biāo)配德國AmptekSI-Pin 探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。

14. 軟件支持無標(biāo)樣分析。

15. 相對于傳統(tǒng)鍍層，開機(jī)不需要預(yù)熱，直接可以測量，測量后可以直接關(guān)機(jī)，節(jié)約用電，減少關(guān)鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時(shí)間。

 三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

四、iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能

1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測量
- 線性層測量，如：薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無電鍍鎳測量
- 電鍍?nèi)芤簻y量
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

    - 勵磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測量

2) 軟件標(biāo)定
- 自動標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

- 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法

- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定

- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

3) 軟件校正功能：
- 基點(diǎn)校正（基線本底校正）

- 多材料基點(diǎn)校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等

- 密度校正

4) 軟件測量功能：
    - 快速開始測量

- 快速測量過程

- 自動測量條件設(shè)定（光管電流，濾光片，ROI）

5) 自動測量功能（軟件平臺）

- 同模式重復(fù)功能（可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動檢測）

- 確認(rèn)測量位置 (具有圖形顯示功能)

- 測量開始點(diǎn)設(shè)定功能（每個(gè)文件中存儲原始數(shù)據(jù)）

- 測量開始點(diǎn)存儲功能、打印數(shù)據(jù)

- 旋轉(zhuǎn)校正功能

- TSP應(yīng)用

- 行掃描及格柵功能

6) 光譜測量功能

- 定性分析功能 （KLM 標(biāo)記方法）

- 每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)

- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法

- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能（強(qiáng)度、能量）

7） 數(shù)據(jù)處理功能

- 監(jiān)測統(tǒng)計(jì)值： 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 值。

- 最小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，

- 獨(dú)立曲線顯示測量結(jié)果。

- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

 8）檢測厚度（正常指標(biāo)）：

- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 – 800 微英寸

- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 – 900 微英寸

- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 – 2000 微英寸

- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 – 500 微英寸

9）其他功能

- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

- 獨(dú)立操作控制平臺

- 視頻參數(shù)調(diào)整

- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

- Multi-Ray、Smart-Ray自動輸出檢測報(bào)告（HTML，Excel）

- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......

- 數(shù)據(jù)庫檢查程序

- 鍍層厚度測量程序保護(hù)。

9） 儀器維修和調(diào)整功能

- 自動校準(zhǔn)功能；

- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；

- 自動校準(zhǔn)過程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。

五、軟件界面

鍍層軟件分析圖譜界面

備注: 以上圖片僅供參考

六、部分國外客戶名單，和國內(nèi)

部分國內(nèi)客戶名單：