廣泛的工作條件與精密測(cè)量功能相結(jié)合
- 適合功率器件表征的綜合解決方案,高達(dá) 1500 A 和 10 kV
- 中等電流測(cè)量和高電壓偏置(例如,500 mA,1200 V)
- μΩ 導(dǎo)通電阻測(cè)量功能
- 高電壓偏置時(shí),可進(jìn)行精確的 sub-pA 電平電流測(cè)量
- 在 -50 ℃ 至 +250 ℃ 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行全自動(dòng)熱測(cè)試
廣泛的器件測(cè)量功能
- 可在高達(dá) 3000 V 直流偏置時(shí)執(zhí)行全自動(dòng)電容測(cè)量(Ciss、Coss、Crss 等)
- 10 μs 高功率脈沖測(cè)量
- 封裝器件和晶圓上 IGBT/FET 柵極電荷測(cè)量
- 高電壓/強(qiáng)電流快速切換選件,適用于 GaN 電流崩塌效應(yīng)表征
- 多達(dá) 5 個(gè)高電壓(3 kV)電源/測(cè)量通道,提供的靈活性
- 通過(guò)互鎖測(cè)試夾具執(zhí)行安全的與溫度相關(guān)的測(cè)試
改進(jìn)的測(cè)量效率
- 在高電壓和強(qiáng)電流測(cè)量之間自動(dòng)切換,無(wú)需重新布線
- 自動(dòng)測(cè)試電路形成,可用于封裝器件和晶圓上器件的晶體管結(jié)電容(Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等)測(cè)量
- 具有互鎖機(jī)制的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試夾具,可進(jìn)行封裝功率器件測(cè)試
- 支持高達(dá) 200 A 和 10 kV 的高功率晶圓上測(cè)試
- 示波器視圖支持對(duì)應(yīng)用電壓和電流波形的驗(yàn)證
- MS Windows EasyEXPERT 軟件簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)管理和分析流程
可升級(jí)和可擴(kuò)展的硬件體系結(jié)構(gòu)
- 廣泛的測(cè)量模塊選擇
- 支持具有高達(dá) 6 個(gè)連接引腳的高功率器件