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功能:納米粒度/Zeta電位(顆?;蚱桨?分布分析儀
分析范圍:
DelsaNano C 納米粒度/Zeta電位分布分析儀 :0.6nm - 7um(粒度測量范圍)
0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)
DelsaNano S 納米粒度分布分析儀:0.6nm - 7um(粒度測量范圍)
DelsaNano Z 納米粒度分布分析儀:0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)
應(yīng)用原理技術(shù):光子相關(guān)光譜分析法,電泳/光散射法
適用范圍:醫(yī)藥品,食品飲料,蛋白質(zhì),生物工程,配方 穩(wěn)定性,墨水,油墨,半導(dǎo)體,固液界面電位等等
技術(shù)特點(diǎn):
- 可選傳統(tǒng)的前散射或背散設(shè)粒度測量
- 可選檢測器前置光圈加強(qiáng)精度與分辨率
- 可選對數(shù)或線性相關(guān)儀針對多種不同分散度樣品
- 可選特強(qiáng)電場針對難度高樣品
- 可選測量溫度低至5度
- 30mW激光源為標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
- 備石英,塑料一次性,毛細(xì)管和高濃度樣品池
- 多點(diǎn)測量Zeta電位分布加強(qiáng)精度
- 分析過程實(shí)時(shí)報(bào)讀粒度和粒度變化趨勢
- 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達(dá)
- 全自動(dòng)SOP操作模式可供連續(xù)測量多個(gè)SOP
- Zeta電位測量同時(shí)測量液體導(dǎo)電率
- 提供專業(yè)分散劑輔助納米分散