XUL X射線熒光鍍層厚度測(cè)試儀器

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)。

有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計(jì)為X-射線管和探測(cè)器系統(tǒng)位于測(cè)量臺(tái)下部。因此測(cè)量方向從下往上。這也就提供了一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn)，尤其對(duì)于測(cè)量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測(cè)試工件的表面可直接放置于測(cè)量臺(tái)上，這就避免了在從上往下測(cè)量系統(tǒng)中需要的測(cè)量距離調(diào)整。測(cè)試點(diǎn)會(huì)自動(dòng)地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測(cè)量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測(cè)量誤差。- FISCHE是一家實(shí)現(xiàn)了這種設(shè)計(jì)的X-射線熒光鍍層厚度測(cè)試儀器的制造廠商。

與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以上乘地適應(yīng)于快速，非破壞性和**的測(cè)量珠寶及貴金屬中金的成分。

Available versions

FISCHERSCOPE® XUL(M)                      Version with fixed test plate.

FISCHERSCOPE® XUL(M)-Xym               Version with manual test stage

X Y travel 50 mm x 50 mm

Dimensions

Measurement head                         width = 455 mm; depth = 580 mm; height = 510 mm

Measurement chamber                     width = 360 mm; depth = 380 mm; height = 240 mm

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