手持式回損儀JW3308
JW3308手持式回損儀設計用于測量各種光器件、光鏈路的反射衰耗,控制光纖接頭質量,在光纖安裝和系統(tǒng)運行的過程中,可測試光回損質量。可分別用做光回損測試儀、光功率計、光源,并具有數據存儲功能。
技術指標
光回損測試 | |
測試波長(nm) | 1310/1550 |
譜寬(nm) | <5 |
顯示范圍(dB) | 6~70 |
精度(dB) | ±0.5 |
分辨率(dB) | 0.01 |
光功率計 | |
波長范圍(nm) | 850 ~ 1650 |
校準波長(nm) | 850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625 |
檢測器類型 | InGaAs |
顯示模式 | dBm 、dB 、W |
顯示范圍(dBm) | -70 ~+6 |
輸入功率(dBm) | +6 |
分辨率(dB) | 0.01 |
精度(dB) | 0.3 |
光源 | |
波長(nm) | 1310/1550 |
譜寬(nm) | <5 |
輸出功率(dBm) | -3 |
穩(wěn)定度(dB,30min) | ± 0.05 |
調制頻率(HZ) | CW, 270, 1K, 2K |