1、儀器概述：
鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術指標，關系到產(chǎn)品的質量以及生產(chǎn)成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加精準。
2、性能優(yōu)勢：
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
最小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
3、技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩(wěn)定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量：90 kg
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
| 樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 標準偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
國產(chǎn)測厚儀不僅可以檢測電鍍件鍍層厚度，還可以對電鍍液直接快速檢測
電鍍液由含有鍍覆金屬的化合物、導電的鹽類、緩沖劑、pH調節(jié)劑和添加劑等的水溶液組成。通電后，電鍍液中的金屬離子，在電位差的作用下移動到陰極上形成鍍層。電鍍時，陽極材料的質量、電鍍液的成分都會影響鍍層的質量，需要適時進行控制。
現(xiàn)有的電鍍液成分分析方法多使用EDTA滴定法，如鎳鍍液總鎳含量分析方法：1、取鍍液1ML，加純水100ML；2、加10ML（1:1）氯水3、加0.2克紫尿酸銨指示劑；4、用0.1mol EDTA溶液滴定至紫色為終點。 總鎳含量（g/L）=0.1mol EDTA溶液滴定毫升數(shù)×5.876。使用該方法工作效率低、而且任意產(chǎn)生人為誤差。而使用XRF方法進行測試就可以解決以上問題。使用天瑞儀器生產(chǎn)EDX1800B儀器*可以滿足電鍍液成分及濃度測試。且與普通化學測試存在以下優(yōu)點：
| 項目 | 傳統(tǒng)化學分析方法（滴定法、ICP、AAS等方法和設備） | X熒光光譜分析方法 |
| 分析速度 | 分析速度比較慢，快速的測試方法也要10～30min得到測試結果 | 一般只需1～3min就可以得到測試結果結果 |
| 分析效果 | 測試結果受人為因素影響很大，測試結果重復性不高 | 幾乎無人為因素影響，測試精度很高，測試重復性很高 |
| 勞動強度 | 全手工分析勞動強度大 | X測試過程大部分由儀器完成，人員勞動強度極低。 |
| 同時分析元素數(shù) | 一般一次只能分析一個元素 | 同時可分析幾十種元素 |
| 是否與化學組份、化學態(tài)有關 | 受到待測元素的價態(tài)及化學組成的影響，樣品不同的價態(tài)和化學組成要采用不同的化學分析方法 | 純物理測量，與樣品的化學組份、化學態(tài)無關 |
| 分析測試成本 | 需要大量的化學藥品，和較復雜的處理過程，測試成本比較高 | 無需要制樣，不需要化學藥品，樣品處理過程簡單，測試成本很低 |
| 人員要求 | 對測試人員需要進行長期嚴格的培訓，人員操作技術要求高 | 對人員技術要求很低，普通的工人經(jīng)過簡單的培訓即可熟練操作使用 |
