原子力顯微鏡工作站AFM5000II／RealTune® II
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數(shù)自動設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數(shù)據(jù)。
- 圖標說明
- * RealTune是日立*公司在日本的注冊商標
特點
規(guī)格
特點
1. RealTune® II 的參數(shù)自動設(shè)置功能
- *的參數(shù)自動設(shè)置功能！
RealTune® II可預(yù)測并調(diào)整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數(shù)，可以根據(jù)樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，高效率、高精度地調(diào)整成合適的測量條件。 - 通過新增加的參數(shù)自動設(shè)置功能（RealTune® II），可實現(xiàn)一鍵（One Click）測量。
原來需要專業(yè)操作才能完成的測量，現(xiàn)在即便是新手也可以輕松勝任。 - 也可用于高難度樣品。
【實例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】
以往的方法這些樣品需要對參數(shù)進行精細的調(diào)整，操作難度很高，并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法
自動設(shè)置成合適的條件，可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的情況下進行精準測量。
【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜（并五苯多結(jié)晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學(xué)北村研究室】
以往的方法這種樣品，表面容易損壞，易產(chǎn)生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。
新處理方法
自動設(shè)置成合適的條件，穩(wěn)定地測量分子級別上的臺階結(jié)構(gòu)。
2. 全新的圖標用戶界面（Graphical Use Interface）
簡單的菜單設(shè)置
- 明了易懂的圖標、嚴格篩選的圖片信息，無論是初學(xué)者還是有經(jīng)驗的操作員，都能夠輕松掌控！
- 可通過選項卡在測量及分析之間相互切換，畫面簡潔明了。
3. 3D覆蓋功能
能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示，并能構(gòu)畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能
配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。
5. 小型化設(shè)計
輕便的小型化外形，適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
規(guī)格
| OS | Windows®7 |
|---|---|
| 連接機型 | AFM5100N、AFM5300E |
| RealTuneII | 懸臂振幅、接觸力、掃描速度、自動設(shè)置反饋增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
| 操作畫面 | 導(dǎo)航功能、多圖顯示功能（測量/分析）、3D疊加功能、掃描范圍/測量記錄顯示功能、數(shù)據(jù)分析批量處理功能、探針評估功能 |
| X,Y,Z掃描電壓 | XY（±200V/18bit） Z（±200V/26bit） |
| 多畫面測量 | 4畫面（大2048×2048） 2畫面（大4096×4096） |
| 長方形掃描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
| 分析軟件 | 3D顯示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
| 尺寸、重量 | 220 mm（W）×500 mm（D）×385 mm（H）、約15 kg |
| 電源 | AC 100V～240V±10%、單相 |
應(yīng)用數(shù)據(jù)
介紹掃描探針顯微鏡的應(yīng)用數(shù)據(jù)。
說明
解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理。
歷史和SPM發(fā)展
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設(shè)備的歷史和發(fā)展。(Global site)
