維修瑞士TESA測(cè)高儀
TESA Hite 400/700測(cè)高儀是集TESA25年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)推出的性?xún)r(jià)比的一款,它必定成為車(chē)間的。TESA Hite400/700適合于如內(nèi)外長(zhǎng)度直徑, 階梯尺寸, 高度, 深度, 和距離的測(cè)量. 配合其他附件(如測(cè)量表頭),還可進(jìn)行直線度和垂直度的測(cè)量.TESA Hite400/700和被替代TESA Hite PlusD350/600 相比具有更大的測(cè)量范圍,更高的精度,電子裝置具有IP65的防護(hù)等級(jí)可以防止液體和灰塵的侵入,機(jī)器本身內(nèi)置氣浮,使得機(jī)器移動(dòng)更加方便快捷,避免測(cè)量基準(zhǔn)的磨損,延長(zhǎng)測(cè)高儀的使用壽命??刂泼姘骞潭ㄔ跈C(jī)身上。表面鍍鎳的鑄鐵底座同時(shí)鑄有三個(gè)支承,保證了儀器的高度穩(wěn)定性. 外罩內(nèi)的立柱配有導(dǎo)軌系統(tǒng)并和底座垂直. 測(cè)頭在此導(dǎo)軌上移動(dòng)并由TESA技術(shù)的位移傳感器記錄其位置. · 技術(shù)指標(biāo)
維修瑞士TESA測(cè)高儀
型號(hào)規(guī)格 |
| TESA Hite |
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400 | 700 |
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測(cè)量范圍 | mm | 415 | 715 |
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應(yīng)用范圍配標(biāo)準(zhǔn)附件 配訂貨號(hào)的測(cè)頭座 配訂貨號(hào)S的測(cè)頭座 | mm | 570 625 795 | 870 925 1095 |
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允許誤差 | (2.5+4L)μm,(L單位為米/L in m) |
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重復(fù)性(帶標(biāo)準(zhǔn)附件) | ±2s≤2μm |
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運(yùn)動(dòng)速度 | 500 mm/s |
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測(cè)量力(聲音信號(hào)) | 1.5±0.5N |
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電源 | 6V 可充電電池 |
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一次充電工作時(shí)間 | 60h |
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微調(diào)裝置 | √ | ||||
測(cè)頭鎖定 | √ | ||||
機(jī)械垂直度(μm) | <10 | <15 | |||
主機(jī)重量(kg) | 27 | 32 | |||
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2) 主要測(cè)量功能
描述 |
在同一個(gè)方向上進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量(測(cè)量模式1), 無(wú)須考慮測(cè)頭直徑 |
在上下方向上進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量(測(cè)量模式2), 要考慮測(cè)頭直徑 |
<連續(xù)性>顯示測(cè)量(測(cè)量模式3) |
在測(cè)量模式2狀態(tài)下顯示出上兩次觸測(cè)值的差值 |
在測(cè)量模式1和模式2狀態(tài)下顯示出上兩次顯示值的差值 |
在測(cè)量模式2狀態(tài)下, 通過(guò)兩次觸測(cè)來(lái)建立基準(zhǔn)點(diǎn),以獲得各種長(zhǎng)度和位置坐標(biāo) |
在測(cè)量模式2狀態(tài)下, 通過(guò)一次觸測(cè)來(lái)建立基準(zhǔn)點(diǎn),以獲得各種長(zhǎng)度測(cè)量 |
在測(cè)量模式1, 2和3狀態(tài)下建立新的基準(zhǔn)點(diǎn) |
在測(cè)量模式1, 2和3狀態(tài)下, 予置數(shù)輸入 |
自動(dòng)將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸給外設(shè) |
確認(rèn)并記錄數(shù)據(jù)在儀器存儲(chǔ)器中 |
增位測(cè)量, 表示找到點(diǎn)(測(cè)內(nèi)外直徑時(shí)使用) |
減位測(cè)量, 表示找到點(diǎn)(測(cè)內(nèi)外直徑時(shí)使用) |
每按一下,即將讀數(shù)傳給外設(shè) |
公英制單位轉(zhuǎn)換 |
取消上一次功能或測(cè)量選擇 |
儀器開(kāi)關(guān)鍵, 當(dāng)面板后部的設(shè)置鍵3置為ON時(shí),儀器在停止使用達(dá)16分鐘時(shí)會(huì)自動(dòng) 維修美國(guó)NanoMap-PS臺(tái)階儀 維修美國(guó)NanoMap-PS臺(tái)階儀 【探針接觸式輪廓儀】臺(tái)階儀,全新美國(guó)進(jìn)口臺(tái)階儀 性?xún)r(jià)比高 NanoMap-PS是一款專(zhuān)門(mén)為nm級(jí)薄膜測(cè)量研發(fā)的無(wú)需防震臺(tái)即可測(cè)量的接觸式臺(tái)階儀 AFM同款位移傳感器,超高精度 壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描,無(wú)內(nèi)源振動(dòng) 自集成主動(dòng)反饋式防震系統(tǒng) 真正無(wú)需額外輔助防震系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性納米測(cè)量 納米量級(jí)科學(xué)研究的*產(chǎn)品 NanoMap-PS臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽(yáng)能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺(tái)階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動(dòng)探索樣品表面,自動(dòng)測(cè)量深受廣大客戶(hù)歡迎。 測(cè)量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對(duì)于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測(cè)量無(wú)須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類(lèi)產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm??蓽y(cè)表面,包括透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料,金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等;
垂直分辨率 0.1nm 垂直量程 1000um 平臺(tái)范圍 直徑150毫米(可選200毫米或更大) 金剛石探針 0.5um到25um可選 |