PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300主要特點：
- 操作簡單，測量速度可以快到3秒。
- 視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
- 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
- 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
- 維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。
- 高達2056x2464像素的偏振相機。
雙折射測量儀PA-300應用領域：
- 光學鏡片
- 智能手機玻璃基板
- 碳化硅，藍寶石等
技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm（標準） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4（擴束鏡頭） |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制 |
