PHL相位差測量儀PA-Micro
主要特點:
- 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
- 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
- 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。
- 具有多種分析功能和測量結果的比較。
- 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
- 高達2056x2464像素的偏振相機。
PHL相位差測量儀PA-Micro應用領域:
- 通信光纖
- 晶體
- 醫(yī)學細胞
技術參數(shù):
項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 選配鏡頭視野 | 無 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制
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