特點
可用于全自動分析圖像質(zhì)量參數(shù)
允分使用了圖卡上的所有空間，信息量大。相比之下，ISO舊款的分辨率測試卡的真實使用率只有10%，即可有10%的內(nèi)容可用于數(shù)據(jù)化的分析。
避免了高反差圖像導(dǎo)致的圖像階調(diào)溢出，使曝光寬容度更大，精度和重復(fù)性也更高。
有助于分析信號處理的信息更多，例如銳化、降噪等。
全自動圖像識別與定位：無需手動選擇分析區(qū)域，可全自動定位測試區(qū)域。
支持多種尺寸和材料：從5X5cm到110X187cm，材料可以是無光、半光或背光材料，玻璃鍍鉻材料（用于小幅面高精度分析）。
SFRplus測試卡可以與軟件Imatest中的SFRplus模塊配合使用，可以分析以下參數(shù)：
MTF清晰度/分辨率
畸變和視場角
噪點
ISO敏感度
色彩精度
橫向色差
Gmma和色調(diào)響應(yīng)。
SFRplus 測試卡有許多可選項目
反差選擇
10:1 和 2:1 反差可用于分析非線性信號響應(yīng)
10:1 僅一種反差有助分析整個取景范圍內(nèi)的3D圖表分析
4:1 反差與2014版的 ISO-12233標(biāo)準(zhǔn)相符合
介質(zhì)類型 -半光澤 或 無光材料
無光紙，好處是有助減少反光，反光比較均勻，相對于啞光相紙的測試圖卡，鏡面反射很少。無光紙的測試卡MTF極值相對于啞光相紙的極限值要小一些。
啞光相紙，啞光相紙相對于無光紙的細(xì)節(jié)會更多一些，大密度也更高。但由于其有較強(qiáng)的鏡面反光，通常不適用于廣角鏡頭的測試。
長寬比例的選擇
5x9 個方塊的測試圖，比例適用于典型的3:2的單反相機(jī)和典型的16:9的HDTV格式的。
5x7 個方塊的測試圖，比例適用于典型的卡片相機(jī)和手機(jī)，比例為4:3。
噴墨打印測試卡的分辨率
我們提供的所有噴墨打印的測試卡的分辨率通常接近MTF50值5 cycles/mm，因此當(dāng)選擇測試圖卡的尺寸時，需要基于此而考慮。使用太小尺寸的測試卡去測試一個高分辨率的相機(jī)是不合適的，會降低成像系統(tǒng)的分辨率到測試卡的極限分辨率。因此需要考慮測試卡的尺寸要滿足小的聚焦距離，分辨率要大于傳感器的分辨率。
可選尺寸和有效分析區(qū)域
對于1200萬像素以內(nèi)的攝像頭，可以使用中等尺寸的測試卡。大尺寸的測試卡可以測試1200萬像素至2400萬像素的攝像頭，2400萬像素以上的攝像頭需要超大尺寸的測試卡。
圖卡尺寸
| Square Dimensions | ||
| 5x9 | 5x7 | |
| X-Small(超小) | 8.5" x 15" | 8.5 x 10" |
| Small(小) | 14" x 24" | 14" x 20" |
| Medium(中) | 24" x 40" | 24" x 34" |
| Large（大） | 44" x 60" | 44" x 60" |
| X-Large（超大） | 44" x 74" | 44" x 64" |
有效拍攝區(qū)域
圖卡的有效拍攝區(qū)域包括上下黑邊以外的部分空白區(qū)域，因為要讓SFRplus測試模塊自動分析和定位測試區(qū)域，需要包括一部分空白。
| Square Dimensions | ||
| 5x9 | 5x7 | |
| X-Small（超?。?/td> | 7.85" x 15" | 6.75" x 10" |
| Small（小） | 12.5" x 24" | 13.5" x 20" |
| Medium（中） | 22" x 39.22" | 22" x 33" |
| Large（大） | 33" x 59" | 40" x 59" |
| X-Large（超大） | 42" x 72" | 42" x 59" |
色塊元素
色塊元素包括20個 色塊，可以用于分析色彩的還原，但需要選擇其測量數(shù)據(jù)做為參考數(shù)據(jù)。
預(yù)畸變選擇
帶有預(yù)畸變的測試圖卡可以用于分析廣角和魚眼鏡頭，并且可以調(diào)整不同的畸變水平。
| Level | Matrix (5x7) | Matrix (5x9) |
| No distortion(無畸變） | [0 0] | [0 0] |
| Distort(小畸變) | [0.833 1.123] | [0.833 1.375] |
| Distort+（大畸變） | [1.167 1.577] | [1.167 1.982] |
| Ultradistort（超大畸變） | [1.333 2.313] | [1.333 2.958] |
我們不建議使用帶光澤的介質(zhì)來測試廣角鏡頭或預(yù)畸變測試卡，因為容易產(chǎn)生反光。
