- TrackScan跟蹤式三維掃描系統(tǒng),無需貼點(diǎn)即可進(jìn)行高精度三維掃描。結(jié)合了紅藍(lán)雙色激光掃描技術(shù)和靈活高效的接觸式光筆測量功能,可快速、準(zhǔn)確地采集物體整體尺寸和關(guān)鍵部位的高精度三維數(shù)據(jù)。TrackScan跟蹤式三維掃描儀
TrackScan擁有紅藍(lán)雙色激光技術(shù),紅光模式高效靈活,藍(lán)光模式0.020mm超高分辨率,可輕松捕捉物體細(xì)節(jié)。同時,選配的T-Probe便攜式三坐標(biāo)測量筆,可滿足基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位的測量需求。
TrackScan可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個方面,還可以提供開發(fā)接口,與機(jī)械人協(xié)同工作,實現(xiàn)在線三維測量。
技術(shù)特點(diǎn)TrackScan跟蹤式三維掃描儀
無需貼點(diǎn)
基于反光標(biāo)記點(diǎn)跟蹤技術(shù),TrackScan掃描無需貼點(diǎn),大大提高了工作效率。
雙色激光
紅光掃描模式高效靈活,藍(lán)光掃描模式0.020mm超高分辨率,輕松獲取物體細(xì)節(jié)。
動態(tài)參考
利用動態(tài)參考功能,TrackScan能在物體自由移動過程中正常工作,精準(zhǔn)獲取物體完整外形三維數(shù)據(jù)。
支持接觸式測量
T-Probe靈活性*,測量范圍廣,單點(diǎn)重復(fù)性0.030mm,用于接觸測量基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位。
復(fù)合定位
支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式,根據(jù)現(xiàn)場情況靈活切換。
測量范圍自由擴(kuò)展
通過調(diào)整E-Track的位置,可對測量范圍自由靈活地擴(kuò)展,且始終保持穩(wěn)定的高精度。