簡(jiǎn)介:相移剪切電子散斑干涉儀
剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測(cè)量離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的激光干涉測(cè)量新技術(shù)。它除了電子散斑干涉術(shù)(ESPI,Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優(yōu)點(diǎn)外,還有光路簡(jiǎn)單,對(duì)測(cè)量環(huán)境要求低等特點(diǎn)。由于剪切電子散斑干涉是測(cè)量位移導(dǎo)數(shù),因此,在自動(dòng)消除剛體位移的同時(shí)對(duì)于缺陷受載的應(yīng)變集中十分靈敏,因此被廣泛地應(yīng)用于無損檢測(cè)(NDT, nondestructive testing)領(lǐng)域。該儀器使用大功率綠色半導(dǎo)體激光器作光源,具有電子散斑條紋實(shí)時(shí)處理軟件,操作方便,便于攜帶,可用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。采用相移技術(shù)分析條紋,可獲得離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的全場(chǎng)數(shù)據(jù)。相移剪切電子散斑干涉儀
主要技術(shù)指標(biāo)及配置:
主要技術(shù)指標(biāo)
1.光源:半導(dǎo)體激光器,功率20mW,波長(zhǎng) 532nm
2.定焦鏡頭: C接口, 配進(jìn)口25mm定焦鏡頭
3.相機(jī): 1280×1024 USB攝像頭
4.工作距離:400~1000mm
5.光學(xué)平臺(tái):600mm×900mm
6.圖像采集分辨率:1280×1024
7.剪切角: 0°±5°連續(xù)可調(diào)
8.軟件: 條紋實(shí)時(shí)顯示,圖像處理軟件
9.演示試件: 圓盤受均布載荷
主要配置
主機(jī):1臺(tái)
25mm定焦鏡頭:1個(gè)
20mW半導(dǎo)體激光器:1臺(tái)
400mm*900mm光學(xué)平臺(tái):1套
相移控制器:1套
圓盤受均布載荷試件:1套
筆記本電腦:1臺(tái)
條紋實(shí)時(shí)顯示軟件和圖像處理軟件:各1套
原理示意:
剪切散斑的基本原理是散斑照相和剪切機(jī)理的結(jié)合,它是在散斑照相的基礎(chǔ)上,通過不同的錯(cuò)位元件,把單光束散斑變?yōu)殡p光束散斑,因而它具有雙光束散斑的特性,即原始波面與錯(cuò)位的波面之間將產(chǎn)生干涉。
離面位移梯度測(cè)量原理如圖2所示,物體A的散斑場(chǎng)經(jīng)過小剪切棱鏡、偏振片和CCD的物鏡,在CCD攝像機(jī)的靶面上形成兩幅錯(cuò)位量為Δ的像,并在CCD靶面上相干涉。
使用方法:
用均勻的白光作為光源照射在被測(cè)物表面,為了便于觀察,可將標(biāo)定紙(圖示帶有“十”字的卡片)貼在被測(cè)物表面,在計(jì)算機(jī)顯示屏上觀察并同時(shí)調(diào)節(jié)物距使成像清晰,如圖示在錯(cuò)位棱鏡的光路中十字形錯(cuò)開成兩個(gè)像。
將白光光源關(guān)閉,打開激光器電源使得其出光。調(diào)節(jié)擴(kuò)束鏡,使光均勻擴(kuò)散在試件表面,將貼在試件上的標(biāo)定紙拿下,分別采集變形前后干涉圖像并實(shí)時(shí)相減,即可獲得全場(chǎng)離面位移導(dǎo)數(shù)圖像。
實(shí)驗(yàn)步驟:
1.調(diào)整儀器設(shè)備至正常工作狀態(tài);
2.將蜂窩夾芯板固定在實(shí)驗(yàn)臺(tái)上,激光器發(fā)出的激光經(jīng)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后完整覆蓋夾芯板,調(diào)整剪切散斑位置,使CCD視野清晰并完整覆蓋夾芯板;
3.采用熱加載的方式,熱源為大功率電吹風(fēng),加熱使蜂窩板產(chǎn)生離面微變形;
4.在室溫下自然冷卻,冷卻過程中采集散斑干涉條紋圖。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
1、14.5mm厚鋁蜂窩板實(shí)驗(yàn)結(jié)果
可以看出,缺陷部位并沒有被測(cè)試出來。由此可分析可能由于此蜂窩板太厚,或蜂窩紙與鋁板連接的膠水太薄,導(dǎo)致即使去除了蜂窩紙與鋁板的連接,影響結(jié)果也不是很大。故實(shí)驗(yàn)結(jié)果不明顯。
經(jīng)過這兩種試驗(yàn)結(jié)果的對(duì)比,對(duì)于厚度較薄的蜂窩板,實(shí)驗(yàn)效果明顯可見。
注:要想能夠順利檢測(cè)出待測(cè)物的缺陷,要滿足加載后(機(jī)械、熱、高音頻或真空加載)材料不僅能夠產(chǎn)生離面位移,而且缺陷兩側(cè)材料要能夠產(chǎn)生不同的程度地離面位移,才能檢測(cè)出缺陷的部位,大小。
應(yīng)用范圍
一般表面變形測(cè)量;離面位移測(cè)量;面內(nèi)應(yīng)變測(cè)量;殘余應(yīng)力測(cè)量;缺陷檢測(cè);密封情況評(píng)估;氣體泄漏探測(cè)