天光測(cè)控PN結(jié)電容特性測(cè)試儀
該結(jié)電容測(cè)試系統(tǒng)由主控計(jì)算機(jī)和系統(tǒng)主機(jī)兩大部分組成,測(cè)試臺(tái)包含在系統(tǒng)主機(jī)內(nèi)。
主控計(jì)算機(jī)內(nèi)的主板上插有一塊PCIE接口板,用于計(jì)算機(jī)和系統(tǒng)主機(jī)之間數(shù)據(jù)傳輸,此接口板通過(guò)50線扁平電纜與系統(tǒng)主機(jī)內(nèi)的系統(tǒng)接口板連接。系統(tǒng)主機(jī)(基本配置)由系統(tǒng)電源、電源控制板(PWC)、系統(tǒng)控制板(SYSCTRL)、電壓偏置源(VB20、VB200)、測(cè)試臺(tái)矩陣板(ST)、配置板(STC)和3536LCR電橋組成。。Tel:173 -4295 -2894
一、系統(tǒng)組成:
1、主控計(jì)算機(jī)
2、系統(tǒng)接口板
3、程控直流偏置電壓源板
4、程控高精度數(shù)字電橋
5、測(cè)試適配板
二、測(cè)試系統(tǒng)軟件:
系統(tǒng)軟件一套,其中包括:
1、菜單式測(cè)試程序編輯軟件
2、診斷軟件
3、校準(zhǔn)軟件
系統(tǒng)各部分的主要功能如下:
*系統(tǒng)電源
系統(tǒng)電源由VCC、+5V、±15V和+12V電源組成,用于系統(tǒng)主機(jī)內(nèi)各部分的直流供電。
*系統(tǒng)電源控制板(PWC)
通過(guò)系統(tǒng)接口板和系統(tǒng)總線來(lái)控制各部分電源順序上電/下電,及主機(jī)柜風(fēng)機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)。
*系統(tǒng)控制板(SYSCTRL)
用于系統(tǒng)與計(jì)算機(jī)之間的數(shù)據(jù)傳輸、緩沖。接口板上有程控定時(shí)器,用于系統(tǒng)定時(shí),協(xié)調(diào)系統(tǒng)內(nèi)各資源的時(shí)間關(guān)系,接口板上的IEEE488接口用于外接數(shù)字電壓表的控制;同時(shí)用于對(duì)被測(cè)器件以及系統(tǒng)內(nèi)的電壓量程轉(zhuǎn)換、比較、數(shù)模轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)采集。
*電壓偏置源(VB20、VB200)
電壓偏置源用于為被測(cè)器件提供偏置電壓,VB20輸出0~20V,用于器件柵極(基極);VB200輸出0~200V,用于器件漏極(集電極)。
測(cè)試臺(tái)矩陣板(ST)和配置板(STC)
測(cè)試臺(tái)矩陣板(ST)和配置板(STC)將系統(tǒng)資源按測(cè)試需求分配被測(cè)器件的管腳,構(gòu)成測(cè)試電路。
電橋(3536LCR)
三、設(shè)備驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及方法:
供方提供由國(guó)家認(rèn)可的計(jì)量機(jī)構(gòu)出具的自檢模塊計(jì)量證書(shū),系統(tǒng)的自檢及校準(zhǔn)通過(guò)IEEE488總線連接一臺(tái)高精度數(shù)字電壓表(Agilent34401或吉時(shí)利2000),運(yùn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)自檢程序完成。
設(shè)備安裝調(diào)試完成后對(duì)用戶(hù)提供的器件進(jìn)行上機(jī)測(cè)試。
四、環(huán)境指標(biāo)要求:
工作環(huán)境溫度要求:20℃~30℃。
工作環(huán)境濕度要求:20%~80%。
工作電源要求: 220V±5% 50Hz/10A
工作接地要求:提供給計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)的電源插座必須具有良好的接地,地線與零線必須分開(kāi),且接地電阻≤1Ω,零、地線之間的交流電壓小于3V。
設(shè)備尺寸及重量:寬52CM 深82CM 高110CM,重50KG。
五、供貨及售后服務(wù)
供貨期:一個(gè)月。
保修期:保修一年,終身維護(hù)。
供方收到用戶(hù)維修請(qǐng)求后在12小時(shí)內(nèi)給予回復(fù),需要到現(xiàn)場(chǎng)排除故障時(shí)二個(gè)工作日內(nèi)派技術(shù)人員趕到用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維修。
設(shè)備交付后免費(fèi)培訓(xùn)相關(guān)人員直至使用熟練為止。
系統(tǒng)操作界面采用中文或以用戶(hù)要求為準(zhǔn)。
軟件*升級(jí),對(duì)需方器件測(cè)試程序提供*支持 。
天光測(cè)控PN結(jié)電容特性測(cè)試儀
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天光測(cè)控
2023.04