天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經銷美國 THORLABS色散測量儀Chromatis
產品型號：Chromatis
美國 THORLABS色散測量儀Chromatis

0°反射
0° - 70°透射
5° - 70°角度反射
可選反射鏡對夾具
同時測量S偏振和P偏振
包含用于波長自校準的HeNe參考激光器
包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器
可選兩個用戶可更換的探測器
機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備
Chromatis色散測量系統可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過光學系統傳播時會變寬；了解每個光學元件引起的GDD并適當補償失真，可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果，Chromatis使用時域白光干涉儀(WLI)來測量GDD。該色散測量系統包含軟件，可指導用戶進行光束對準(條紋優(yōu)化)、自動找到零延時位置(max.條紋對比)并快速測量色散。
Chromatis色散測量系統具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學元件。由于干涉圖是在時域中記錄，因此可以使用單個光電二極管探測器(而不是光譜儀)進行測量，并且內置的HeNe參考激光器可對波長軸進行校準。該系統包括一個波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測器進行1000-1650 nm波長范圍內的測量。

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