X射線檢測是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001~0.1nm。X射線以光速直線傳播,不受電場和磁場的影響,可穿透物質,在穿透過程中有衰減,能使膠片感光。
當X射線穿透物質時,由于射線與物質的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復雜的物理過程,其結果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強度相應減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺陷介質對射線能量衰減程度不同,而引起射線透過工件后強度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過暗室處理后獲得缺陷影像,再對照標準評定工件內(nèi)部缺陷的性質和底片級別。
根據(jù)觀察其缺陷的性質、大小和部位來評定材料或制品的質量,從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故。
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