SurfaceSeer 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 是Kore公司集多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)生產(chǎn)出*的儀器，*次將材料表面分析技術(shù)引入到可負(fù)擔(dān)得起的日常常規(guī)分析范圍中?？稍诙痰姆治鰰r間內(nèi)生成化學(xué)圖像，突破常規(guī)實(shí)驗(yàn)室儀器的極限! SurfaceSeer分析儀采用功能強(qiáng)大的二次離子質(zhì)譜儀SIMS技術(shù)，結(jié)構(gòu)緊湊，僅需一個標(biāo)準(zhǔn)電源SurfaceSeer 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀，可放置于任何場所使用。SurfaceSeer應(yīng)用廣泛，是一臺高性價比的實(shí)驗(yàn)室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對較低的維護(hù)成本和較高的樣品分析速度，保證其單個樣品分析成本明顯低于商業(yè)實(shí)驗(yàn)室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負(fù)擔(dān)得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。 TOF-SIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 二次離子質(zhì)譜儀 (SIMS) 是材料表面分析重要的技術(shù)之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學(xué)組成。所獲取的信息遠(yuǎn)超過簡單的元素分析，可以識別有機(jī)組分的分子結(jié)構(gòu)。 TOF-SIMS 的關(guān)鍵功能是原位無損分析表面區(qū)域 (靜態(tài)SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束（成像SIMS）建立無損表面的化學(xué)成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面，對表面作深度剖析（動態(tài)SIMS）。只需極少的樣品前處理，極短的時間內(nèi)就可獲得高靈敏度的分析結(jié)果 。