X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學,法醫(yī)學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。中文名X射線熒光光譜儀外文名X-rayFluorescenceSpectrometer領域光學1簡介X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破
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