摘要輪廓標(biāo)逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x是用來(lái)測(cè)量交通標(biāo)識(shí)材料逆反射系數(shù)（R′）的儀器。ML-101D型輪廓標(biāo)逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x適用于材料生產(chǎn)單位、質(zhì)量監(jiān)督部門、工程施工和監(jiān)理單位等對(duì)逆反射標(biāo)識(shí)材料的質(zhì)量控制和檢測(cè)。主要技術(shù)指標(biāo)1.觀測(cè)角（α）：0o～2.0o范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，讀數(shù)精度為0...

摘要TIME®3234 波紋度測(cè)量?jī)x是便攜式觸針式波紋度測(cè)量?jī)x，適用于生產(chǎn)車間、實(shí)驗(yàn)室、計(jì)量室等環(huán)境的檢測(cè)。它能夠評(píng)定粗糙度、波紋度和原始輪廓。測(cè)量結(jié)果可以數(shù)字和圖形方式顯示在液晶顯示器上，也可以輸出到打印機(jī)上。還可以連接到電腦，使用本公司的專用分析軟件進(jìn)行高級(jí)分...

摘要 CV3100/4100輪廓度測(cè)試儀，輪廓檢測(cè)儀

摘要 CV3000CNC/CV4000CNC 三豐輪廓度檢測(cè)儀，進(jìn)口輪廓度儀，大尺寸輪廓檢測(cè)儀

摘要 CV2000 Contracer輪廓度測(cè)量?jī)x，輪廓度檢測(cè)儀，三豐輪廓度儀

摘要 螺紋掃描儀 輪廓儀

摘要 SP928基于BeamGage的光束輪廓儀更新：2019-11-14 12:12:05點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌Ophir產(chǎn)品型號(hào)SP928產(chǎn)品描述帶BeamGage的USB 3.0硅CCD高分辨率相機(jī)...PDF下載 詢價(jià) 申請(qǐng)樣品

摘要 NanoScan 2s Pyro/9/5掃描狹縫輪廓儀

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統(tǒng)使用其鍺檢測(cè)器準(zhǔn)確捕獲和分析 700nm - 1800nm 的波長(zhǎng)。它具有適用于大多數(shù)光束的孔徑尺寸、接近實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能，并以 CW 或 ...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統(tǒng)使用其鍺檢測(cè)器準(zhǔn)確捕獲和分析 700nm - 1800nm 的波長(zhǎng)。它具有適用于小光束的孔徑尺寸、接近實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能，并以 CW 或 kH...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統(tǒng)使用其硅檢測(cè)器準(zhǔn)確捕獲和分析 190nm - 1100nm 的波長(zhǎng)。它具有適用于大多數(shù)光束的狹縫尺寸、接近實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能，并以 CW 或 ...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統(tǒng)使用其硅檢測(cè)器準(zhǔn)確捕獲和分析 190nm - 1100nm 的波長(zhǎng)。它具有適用于小光束的狹縫尺寸、接近實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能，并以 CW 或 kH...

摘要 LPK-YAG激光輪廓分析儀更新：2016-4-13 14:56:12點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌Ophir產(chǎn)品型號(hào)LPK-YAG產(chǎn)品描述 4000W Nd:YAG ， 30mm 1/e2 光束寬度...PDF下載 詢價(jià) 申請(qǐng)樣品

摘要 激光輪廓分析儀工具包LPK-CO2更新：2016-4-28 10:46:18點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌Ophir產(chǎn)品型號(hào)LPK-CO2產(chǎn)品描述 31mm光束寬度（16mm 1/e 寬度）...PDF下載 詢價(jià) 申請(qǐng)樣品

摘要 產(chǎn)品詳情更多PGIOptics測(cè)量?jī)x器是一種觸針式光學(xué)輪廓儀，它可以測(cè)量塑料透鏡、球面、非球面、自由曲面、紅外玻璃和晶體，以及直徑達(dá)300mm的衍射表面的粗糙度和形狀

摘要 輪廓標(biāo)逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x是用來(lái)測(cè)量交通標(biāo)識(shí)材料逆反射系數(shù)（R′）的儀器

摘要 儀器測(cè)量原理：該儀器為直角坐標(biāo)測(cè)量法，觸針接觸式。 X軸采用高精密的氣浮導(dǎo)軌為基準(zhǔn)，Z1軸采用數(shù)字傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓形狀的坐標(biāo)點(diǎn)通過(guò)計(jì)算機(jī)的軟件

摘要 產(chǎn)品描述：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能。

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開(kāi)發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。

摘要 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-I集多項(xiàng)檢測(cè)功能于一身，成為桌上型定量測(cè)試儀器。

摘要 產(chǎn)品描述：ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。

摘要 產(chǎn)品描述：布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產(chǎn)的自校準(zhǔn)、具備全自動(dòng)解決方案的三維光學(xué)輪廓系統(tǒng)

摘要 輪廓儀/粗糙度輪廓儀一體機(jī)MMD系列

摘要便攜式輪廓儀精度指標(biāo)導(dǎo)軌直線度精度：0.4μm/80mm采樣隔間：最小1μmX向光柵分辨率：1μmZ向光柵傳感器分辨率:0.1μmX向精度：(3.8+L/1000)μmZ向精度：(2.2+0.08%H)μm測(cè)量范圍測(cè)量長(zhǎng)度：50mmZ向傳感器量程：6mm產(chǎn)品特點(diǎn)便攜式...

摘要便攜式輪廓儀精度指標(biāo)導(dǎo)軌直線度精度：0.4μm/80mm采樣隔間：最小1μmX向光柵分辨率：1μmZ向光柵傳感器分辨率:0.1μmX向精度：(3.8+L/1000)μmZ向精度：(2.2+0.08%H)μm測(cè)量范圍測(cè)量長(zhǎng)度：50mmZ向傳感器量程：6mm產(chǎn)品特點(diǎn)便攜式...

摘要 SP3300輪廓儀基本參數(shù)X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：24mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/24)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP3200輪廓儀基本參數(shù)X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：60mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/40)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP3100輪廓儀基本參數(shù)X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：40mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/40)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP2200輪廓儀(實(shí)用型)基本參數(shù)X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：40mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/40)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP2300輪廓儀基本參數(shù)X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：60mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/40)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP2100輪廓儀(實(shí)用型)基本參數(shù)X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：24mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/24)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP1200輪廓儀(經(jīng)濟(jì)型)基本參數(shù)X向量程：100mmX軸分辨率：0.5μmX軸指示精度：±（4+2L/100)μmZ向量程：12mmZ軸分辨率：0.4μmZ指示精度：±（3.5+|4H|/12)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 SP1100輪廓儀(經(jīng)濟(jì)型)基本參數(shù)X向量程：100mmX軸分辨率：0.5μmX軸指示精度：±（4+2L/100)μmZ向量程：12mmZ軸分辨率：0.4μmZ指示精度：±（3.5+|4H|/12)μm產(chǎn)品特點(diǎn)★高精度小臺(tái)式輪廓測(cè)量?jī)x

摘要 馬爾 輪廓儀 XC2

摘要 馬爾 輪廓儀 CD140

摘要 Filmetrics讓3D光學(xué)輪廓測(cè)量的價(jià)格變得更加能夠接受。Profilm3D使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù)。以的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。

摘要 JB-5C/6C已注冊(cè)，國(guó)家工商行政商標(biāo)局商標(biāo)證號(hào)：15327635號(hào)輪廓粗糙度測(cè)試儀JB-5C/JB-6CPROFILEANDROUGHNESSTESTER產(chǎn)品簡(jiǎn)介Brief：廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、摸具、精密五金、光學(xué)加工等行業(yè)

摘要MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。MicroXAM的白光干涉儀可以埃級(jí)分辨率對(duì)表面進(jìn)行高分辨率測(cè)量。 該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測(cè)量，兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(shù)（CSI）。MicroXAM進(jìn)一步擴(kuò)展了這些技術(shù)，它采用SMART...

摘要 特點(diǎn)：?一次測(cè)量實(shí)現(xiàn)粗糙度、波紋度、輪廓分析?實(shí)現(xiàn)全范圍內(nèi)的粗糙度、波紋度測(cè)量

摘要 輪廓儀曲面R角檢測(cè),Z1檢測(cè)出器行程大,可以傾斜角度,簡(jiǎn)單一鍵測(cè)量。

摘要產(chǎn)品介紹 ZeGage™光學(xué)輪廓儀是用于3D形貌定量測(cè)試，和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。它工業(yè)化的設(shè)計(jì)提供快速，精確的測(cè)量方案，并且外形緊湊、性價(jià)比高，能夠放在生產(chǎn)車間工作，而不需要振動(dòng)隔離和特殊的隔離裝置。同時(shí)交互式的控制軟件MxTM提...

摘要 產(chǎn)品介紹 NewView™ 9000 3D光學(xué)輪廓儀提供了強(qiáng)大、多功能的非接觸式光學(xué)表面分析。它可以簡(jiǎn)單和快速地測(cè)量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測(cè)量都是無(wú)損、快速、無(wú)需樣品制備的。

摘要 產(chǎn)品介紹 Nexview™ NX2 光學(xué)輪廓儀是為更高應(yīng)用需求設(shè)計(jì)的，集超精密、算法、應(yīng)用靈活性和自動(dòng)化為一體，展現(xiàn)了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術(shù)的能力。

摘要產(chǎn)品介紹 測(cè)量動(dòng)態(tài)MEMS設(shè)備光學(xué)輪廓儀是確定MEMS設(shè)備表面特征的一 種非常有用的工具。傳統(tǒng)意義上，光學(xué)輪廓儀被用來(lái)測(cè)量樣品的表面特性。但是，在測(cè)量過(guò)程中，所測(cè)量的樣品需保持在靜止的狀態(tài)下，如果樣品不穩(wěn)定或者 處于運(yùn)動(dòng)狀態(tài)則會(huì)引起圖像混亂模糊、數(shù)據(jù)不完整或者數(shù)據(jù)丟失...