摘要 自動計算炭素材料電阻率測試儀-主要用于金屬粉末、石墨、鍛后石油焦、負極材料等導體、半導體粉末材料電阻率測試，及炭陽極、石墨棒材等塊體材料電阻率測試。

摘要 多功能炭素材料電阻測試儀-主要用于金屬粉末、石墨、鍛后石油焦、負極材料等導體、半導體粉末材料電阻率測試，及炭陽極、石墨棒材等塊體材料電阻率測試。

摘要 全自動多功能炭素材料電阻測試儀-主要用于金屬粉末、石墨、鍛后石油焦、負極材料等導體、半導體粉末材料電阻率測試，及炭陽極、石墨棒材等塊體材料電阻率測試。

摘要JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試儀是一款針專門用于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試裝置，采用環(huán)形三電極測試可以勝任于防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等)電阻值的檢測;材料體電阻(率)和表面電阻(率)測量，是目前電阻...

摘要 BX-Y12103自動鋁和鋼材料躍遷電阻測試儀用于單板或兩個重疊的鋁或鋼有或沒有表面處理，有或沒有表面涂層，的過渡電阻測量。

摘要 參照JB/T8133.2-1999 電炭制品物理化學性能試驗方法.本標準適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測定。

摘要 BX-Y1294金屬材料電阻率測試儀適用于測量金屬材料大的體積電阻率、質(zhì)量電阻率、電導率及直流電阻比率等電性能的測量。

摘要BX-Y1293液晶顯示材料低電阻及電阻率測試儀可以測量0.01μΩ；適用于測試材料低電阻、電阻率和導電性能數(shù)據(jù)。直流恒流恒壓源，電流具有手動和自動設定模式；自動量程，液晶顯示，自動顯示電流、電壓、溫度、電阻率、電導率、電阻值、單位轉換等數(shù)據(jù)，選配：PC軟件獲得測試數(shù)...

摘要四端測試法測量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下導電性能。恒流，自動電流檔， 4.3吋液晶顯示，顯示：電流、電壓、溫度、電阻率，電導率，電阻等數(shù)據(jù)，選配：PC軟件獲得測試數(shù)據(jù)之圖譜和報表。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同選購測試治具.鋁用炭素材料檢測方法 第2部分 陰極炭塊和預...

摘要 BX-Y1291絕緣材料表面比電阻率測試儀用于測量織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率），表面比電阻的大小可間接反映試驗材料表面靜電，從而反映試驗材料的帶靜電性.采用施加(100±5）V的直流電壓于被測樣品上進行測量。

摘要 BX-Y1290液晶顯示阻水帶表面體積電阻率測試儀采用液晶顯示,數(shù)字按鍵操作，中文或英文操作界面;具有232和USB通訊端口;可選配PC軟件報表導出和數(shù)據(jù)管理。

摘要 BX-Y1289液晶顯示軟管及軟管組件電阻率測試儀用于液壓軟管和組件的電導率測試,采用液晶顯示,數(shù)字按鍵操作，中文或英文操作界面;具有232和USB通訊端口;可選配PC軟件報表導出和數(shù)據(jù)管理。

摘要BX-Y1288導電靜電橡膠電阻率測試儀含有炭黑或電離物質(zhì)的導電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)制備的試樣在實驗室對其體積電阻率的測定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10Ω.m的物質(zhì).用于導電和靜電產(chǎn)品的橡膠的體積電阻...

摘要 參照ASTM D 991-1989 橡膠特性.導電橡膠及靜電橡膠制品的體電阻系數(shù)測試方法BX-Y1287液晶顯示導電橡膠及靜電橡膠電阻率測試儀用于導電和靜電產(chǎn)品的橡膠的體積電阻率的測定

摘要 參照GB 12014-2009 防靜電工作服BX-Y1286點對點電阻測試儀用于測量防靜電工作服、織物、地毯、絕緣材料的點對點電阻測量。

摘要 BX-Y1285液晶顯示電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀適合電纜研究部門，電纜廠，對于高壓交聯(lián)電纜半導電屏蔽層電阻率的測試。中文或英文兩種語言。

摘要BX-Y1284電線電纜四端測量電阻率測試儀適用于電線電纜、漆包線、銅線、合金線、鋁線等導體線束線材測量適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室；對產(chǎn)品質(zhì)量分析電阻、電阻率、電導率參數(shù).液晶顯示，自動分析，自動讀數(shù)，具有溫度補償 ，單位切換，自動量程，選配：PC軟件...

摘要 BX-Y1283化學轉化膜四端測量表面接觸電阻測試儀適用于化學轉化材料及通訊器材零部件表面轉化膜測量。

摘要 BX-Y1251G-1600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251F-1400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251E-1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251D-1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251C-800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251B-600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251A-400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1251-200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理，用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250G-1600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250E-1400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250F-1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250D-1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250C-800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250B-600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250A-400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1250-200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等。

摘要 BX-Y1249G-1600導體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導體材料及非金屬類導體材料測量。

摘要 BX-Y1249F-1200導體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導體材料及非金屬類導體材料測量。

摘要 BX-Y1245D-1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245C-800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245B-600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245A-400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245-200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

摘要BX-Y1227A全自動四探針電阻測試儀，全自動化運行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻；可設定探針壓力值、測試點數(shù)、多種測量模式選擇,可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標準校準電...

摘要BX-Y1227全自動四探針電阻測量測試儀，全自動化運行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻；可設定探針壓力值、測試點數(shù)、多種測量模式選擇；真空環(huán)境，可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提...

摘要 BX-Y1225C 1000KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1225B 500KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。