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  • 國產(chǎn)白光干涉三維形貌儀

    SuperViewW國產(chǎn)白光干涉三維形貌儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

  • 紅外熱成像面部掃描系統(tǒng)ME

    MEDICAS紅外熱成像相機配備一個像素分辨率為640×512px的LWIR短波紅外微測輻射熱敏傳感器，并提供一個用于獲得熱成像的RGB相機（1920x1080像素全高清分辨率）

  • WIRIS Pro紅外熱成像相機

    WIRISPro配備一個LWIR長波紅外微測輻射熱傳感器，分辨率為640×512像素（在7.5-13.5μm范圍)，超分辨率模式可以提供高達1266x1010像素的熱成像圖，熱敏相機可以測量高達1500°C的溫度

  • 機器人空間位置精度激光追

    GTS機器人空間位置精度激光追蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標測量機，是同時具高精度（μm級）、大工作空間（百米級）的高性能光電測量儀器，被廣泛應用在飛機、汽車、船舶、航天、機器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學工程、工業(yè)母機的高精密加工和裝配中，已成為多個行業(yè)的習慣和測量標準。

  • 白光干涉三維形貌輪廓儀

    SuperViewW白光干涉三維形貌輪廓儀納米級分辨率，非接觸式測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。

  • 白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

    SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

  • 中圖臺式掃描電鏡

    中圖臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

  • 白光干涉儀三維表面測量系

    SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)以白光干涉技術為原理結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

  • 大樣品倉臺式掃描電鏡

    CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果。

  • 國內高分辨率臺式掃描電鏡

    不同于立式電鏡，CEM3000國內高分辨率臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果。
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