摘要測量主軸采用優(yōu)化方形設計，確保測量時運動性能的穩(wěn)定性；擁有多種功能強大的附件可選，能滿足不同測量要求；光柵照明系統(tǒng)采用低電壓、小電流、體積小、壽命 長的紅外發(fā)光器件做光源；儀器采用了高精密的測量系統(tǒng)，符合阿貝原理，測量精度高；采用進口光柵系統(tǒng)，精度高，穩(wěn)定可靠；測 量...

摘要 LS103A光學透過率測量儀 玻璃/太陽膜/鍍膜玻璃透光率檢測儀

摘要三維光學密集點云測量系統(tǒng)I0M400與傳統(tǒng)的三坐標測量儀和激光三維掃描儀相比，是一種高速高精度的三維掃描測量設備，系統(tǒng)具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點，系統(tǒng)的軟件和硬件可以根據(jù)需要專門進行開發(fā)和設計，技術實用性強，廣泛適用于各種需求三維數(shù)據(jù)的行業(yè)，如汽車工業(yè)、...

摘要 SuperViewW國產白光干涉三維形貌儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 MEDICAS紅外熱成像相機配備一個像素分辨率為640×512px的LWIR短波紅外微測輻射熱敏傳感器，并提供一個用于獲得熱成像的RGB相機（1920x1080像素全高清分辨率）

摘要 WIRISPro配備一個LWIR長波紅外微測輻射熱傳感器，分辨率為640×512像素（在7.5-13.5μm范圍)，超分辨率模式可以提供高達1266x1010像素的熱成像圖，熱敏相機可以測量高達1500°C的溫度

摘要GTS機器人空間位置精度激光追蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標測量機，是同時具高精度（μm級）、大工作空間（百米級）的高性能光電測量儀器，被廣泛應用在飛機、汽車、船舶、航天、機器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學工程、工業(yè)母機的高精密加工和裝配中，已成為多...

摘要SuperViewW白光干涉三維形貌輪廓儀納米級分辨率，非接觸式測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、...

摘要 SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

摘要 中圖臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

摘要 SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)以白光干涉技術為原理結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要 CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果。

摘要 不同于立式電鏡，CEM3000國內高分辨率臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果。

摘要 光伏組件檢測儀內置存儲空間，可以保存大量的EL圖像。通常采用可充電鋰電池供電，保證長時間工作。

摘要 el缺陷檢測儀支持連續(xù)拍攝模式，可以在短時間內完成多塊組件的檢測。配備高靈敏度的攝像頭，能夠清晰地顯示細微的缺陷。

摘要 光伏板檢測儀器通常配有觸摸屏或簡單的按鈕控制，方便設置參數(shù)和啟動檢測。能夠迅速獲取高質量的EL圖像，提高工作效率。

摘要 便攜式el檢測儀設計輕巧，便于攜帶到不同地點進行現(xiàn)場檢測。適合于戶外作業(yè)，適用于各種安裝環(huán)境下的光伏系統(tǒng)檢查。

摘要 SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要 SuperViewW白光干涉微觀三維形貌測量儀測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 SuperViewW納米級微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

摘要 中圖儀器白光干涉儀國產三維形貌儀SuperViewW是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 德國OWIS光學支架26.060.3803可用于所有方向手動翻轉鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.045.2603提供優(yōu)異的穩(wěn)定性手動翻轉鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.040.2603具有高精度的角度調整能力手動翻轉鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.025.1303也可提供電動版本手動翻轉鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.020.1303可從任何方向插入手動翻轉鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0035適應不同實驗需求用于安裝直徑 35 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0000廣泛應用于光學實驗室用于安裝光學器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國OWIS光學支架26.065.3803適用于多種光學元件手動翻轉鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架19.100.0076實現(xiàn)光學系統(tǒng)的校準用于未安裝光學器件的光學器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 56 mm

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0045帶2個細牙螺釘XY 調節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 45 毫米

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0050有效保護光學元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學器件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0026用于固定安裝的光學器件XY 調節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調節(jié)安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 25 毫米

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0032具有良好的穩(wěn)定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0025與SYS 40一起使用用于直徑 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0022黑色陽極氧化處理用于直徑 22.4 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 中圖儀器SuperViewW白光三維測量系統(tǒng)基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 SuperViewW1國產自研白光干涉三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。