淺談高低溫濕熱試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)
2022-08-23標(biāo)簽:高低溫濕熱試驗(yàn)箱
制冷系統(tǒng)是高低溫濕熱試驗(yàn)箱的關(guān)鍵部分之一,一般來說制冷方式采用蒸氣壓縮式制冷。根據(jù)試驗(yàn)箱工作溫度范圍不同,制冷型式有:?jiǎn)渭?jí)制冷、雙級(jí)制冷和復(fù)疊式制冷。它們主要由壓縮機(jī)、冷凝器、節(jié)流機(jī)構(gòu)和蒸發(fā)器組成。以東莞瑞凱儀器生產(chǎn)的試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)為例(見圖1-5),它由兩部分組成,分別稱為高溫部分和低溫部分,每一部分都是一個(gè)相對(duì)獨(dú)立的制冷系統(tǒng)。
高溫部分制冷劑的蒸發(fā)吸熱來自低溫部分制冷劑的冷凝放熱;低溫部分制冷劑的蒸發(fā)是從試驗(yàn)箱內(nèi)空氣吸熱來獲取熱量。高溫部分和低溫部分是用蒸發(fā)冷凝器聯(lián)系起來的,它既是高溫部分的蒸發(fā)器,也是低溫部分的冷凝器。瑞凱試驗(yàn)箱的高溫部分制冷劑采用中溫制冷劑HFC-404,低溫部分制冷劑采用低溫制冷劑R23,箱內(nèi)溫度能達(dá)到-70C。
加熱系統(tǒng):它相對(duì)制冷系統(tǒng)而言比較簡(jiǎn)單。它主要出電阻絲組成。如果要求升溫速率較大,則加熱絲功率也比較大,而且在試驗(yàn)箱的底板也設(shè)有加熱器。加熱系統(tǒng)的加熱量可由控制系統(tǒng)來決定??刂葡到y(tǒng):是試驗(yàn)箱的核心,它決定了試驗(yàn)箱的升降溫速率及精度等重要指標(biāo)?,F(xiàn)有試驗(yàn)箱的控制器大都采用PID控制方法。
濕度系統(tǒng):分為加濕和除濕兩個(gè)子系統(tǒng)。加濕方式一般采用燕氣加濕法,即將常壓蒸氣直接注人試驗(yàn)空間加濕。這種加濕方法加濕能力強(qiáng),速度快,加濕控制靈敏,尤其在降溫時(shí)容易實(shí)現(xiàn)強(qiáng)制加濕。除濕有兩種方式:冷卻除濕和干燥器除濕。冷卻除濕是將空氣冷卻到露點(diǎn)溫度以下,使大于飽和含濕量的水氣凝結(jié)析出,這樣就降低了濕度。
干燥器除濕是利用氣泵將試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣抽出并送人干燥器進(jìn)行干燥,干燥完后又送人試驗(yàn)箱內(nèi),如此反復(fù)循環(huán)進(jìn)行除濕?,F(xiàn)在大部分試驗(yàn)箱采用前一一種除濕方法,后一種除濕方法用于有特殊要求的場(chǎng)合,且費(fèi)用較貴。
傳感器系統(tǒng):高低溫濕熱試驗(yàn)箱的傳感器主要是溫度和濕度傳感器。溫度傳感器應(yīng)用較多的是鉑電阻和熱電偶。濕度的測(cè)量方法有兩種:干濕球溫度計(jì)法和固態(tài)電子式傳感器直接測(cè)量法??諝庋h(huán)系統(tǒng):一般由風(fēng)機(jī)及其驅(qū)動(dòng)電機(jī)構(gòu)成。
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大空間步入式高溫老化房是一種用于對(duì)各種工業(yè)產(chǎn)品(如電子元件、機(jī)械部件、光伏組件、汽車零部件等)進(jìn)行高溫老化測(cè)試的設(shè)備。其主要作用是模擬惡劣的高溫環(huán)境,以加速產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能出現(xiàn)的老化過程,從而幫助制造商評(píng)估產(chǎn)品的耐高溫能力、可靠性和使用壽命。
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步入式高溫老化房是一種專門設(shè)計(jì)用于對(duì)產(chǎn)品或材料進(jìn)行高溫環(huán)境下加速老化測(cè)試的設(shè)備。它通過模擬高溫、濕度等環(huán)境條件,促使產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷長(zhǎng)期使用中可能遇到的老化現(xiàn)象,幫助評(píng)估產(chǎn)品的耐用性、可靠性和性能穩(wěn)定性。步入高溫老化房常用于電子、汽車、材料、家電、太陽能電池等行業(yè),特別是在進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制、性能評(píng)估和研發(fā)時(shí),具有重要作用。
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高溫恒溫老化房測(cè)試設(shè)備是一種用于模擬設(shè)備或材料在高溫環(huán)境下長(zhǎng)期使用過程中的性能變化的測(cè)試設(shè)備。通過設(shè)定穩(wěn)定的高溫環(huán)境,高溫恒溫老化房能夠加速測(cè)試樣品的老化過程,從而評(píng)估其在高溫條件下的可靠性、耐久性和使用壽命。這類設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品、汽車零部件、塑料、材料等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)和產(chǎn)品開發(fā)中。
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高溫壽命老化房測(cè)試設(shè)備(或高溫老化測(cè)試箱)是一種用于模擬長(zhǎng)時(shí)間在高溫環(huán)境下工作的設(shè)備,常用于測(cè)試電子產(chǎn)品、材料、元器件等在高溫條件下的耐久性、可靠性和老化特性。高溫壽命老化房通過加熱設(shè)備和精確的溫控系統(tǒng)來提供穩(wěn)定的高溫環(huán)境,幫助評(píng)估產(chǎn)品或材料在長(zhǎng)期使用過程中可能出現(xiàn)的老化現(xiàn)象。
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