摘要 產(chǎn)品介紹離軸反射軸錐鏡（Off-axisreflectiveaxicons）主要用于產(chǎn)生貝塞爾光束（近場）和環(huán)形光圈（遠(yuǎn)場）

摘要 德國EPK公司麥考特覆層測厚儀，精確無誤地測量鋼鐵上的涂層鍍層厚度：·電鍍層，電鍍鎳層，磷化膜·油漆，粉末涂層·塑料，橡膠

摘要 超聲波材料乳化分散器主要應(yīng)用于石油、化工過程中的油水或其它物料的乳化、微乳化，也可用于輕工、納米材料、食品和醫(yī)藥等部門的液體處理。

摘要 *

摘要 阿貝折射儀一、儀器用途阿貝折射儀是能測定透明、半透明液體或固體的折射率nD和平均色散nF－nC的儀器（其中以測透明液體為主），如儀器上接恒溫器，則可測定溫度為0℃－70℃內(nèi)的折射率nD

摘要V棱鏡折射儀一、儀器用途此儀器可用來對透明或半透明固體和液體物質(zhì)的折射率，平均色散和部分色散進(jìn)行快速精確地測定（即能測定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7nm等八種常用波長的折射率...

摘要 WXG-4圓盤旋光儀一、儀器用途圓盤旋光儀使用于化學(xué)工業(yè)、醫(yī)院、高等院校和科研單位，用來測定含有旋光性的有機(jī)物質(zhì)，如糖溶液、、樟腦等幾千種活性物質(zhì)，都可用旋光儀來測定它們的比重、純度、濃度與含量

摘要 自動旋光儀WZZ-2A自動旋光儀是測定物質(zhì)旋光度的儀器

摘要 WRS-1A數(shù)字熔點(diǎn)儀數(shù)字熔點(diǎn)儀DIGITALMELTING-POINTAPPARATUS根據(jù)物理化學(xué)的定義，物質(zhì)的熔點(diǎn)是指由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度

摘要 X-4顯微熔點(diǎn)儀一、儀器用途物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度

摘要 WGZ-1數(shù)字式濁度儀一、濁度介紹濁度，即水的混濁程度，由水中含有微量不溶性懸浮物質(zhì)，膠體物質(zhì)所致，ISO標(biāo)準(zhǔn)所用的測量單位為FTU（濁度單位），F(xiàn)TU與NTU（濁度測定單位）一致

摘要 WGZ-200光電濁度儀一、濁度介紹濁度，即水的混濁程度，由水中含有微量不溶性懸浮物質(zhì)，膠體物質(zhì)所致，ISO標(biāo)準(zhǔn)所用的測量單位為FTU（濁度單位），F(xiàn)TU與NTU（濁度測定單位）一致

摘要 WGW　光電霧度儀一、儀器用途W(wǎng)GW光電霧度儀是根據(jù)GB2410—80及ASTMD1003—61（1997）設(shè)計(jì)的小型霧度儀

摘要 WGT-S 透光率/霧度測定儀

摘要 WYL-2應(yīng)力儀一、儀器用途本儀器廣泛應(yīng)用光學(xué)工廠、玻璃廠、透明塑料制品工業(yè)及其它光學(xué)材料的應(yīng)力值等檢測單位測量，也適合科學(xué)研究單位測量光學(xué)晶體的光程差值

摘要 分光光度計(jì)一、儀器用途儀器可供物理學(xué)、化學(xué)、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、藥物學(xué)學(xué)課作科學(xué)研究分析或化學(xué)工業(yè)、制藥工業(yè)、食品工業(yè)、冶金工業(yè)、臨床生化、環(huán)境保護(hù)等部門理化實(shí)驗(yàn)室提供測試分析正規(guī)儀器

摘要 蒸汽吸附分析儀通過將樣品置于變化的濕度和溫度條件下，以檢測重量的方式測量樣品的響應(yīng)

摘要 標(biāo)準(zhǔn)骨骼架；尺寸：170cm；重量：7.6kg；品牌：3B；產(chǎn)地：德國

摘要 鋼木結(jié)構(gòu)通用技術(shù)實(shí)驗(yàn)室

摘要 作品展示柜

摘要 通用技術(shù)實(shí)驗(yàn)室

摘要 煙氣流動模擬箱用來創(chuàng)建火災(zāi)模擬，模擬火災(zāi)煙氣流動。仿真模擬預(yù)測火災(zāi)中的煙氣的流動、走勢，方便觀察研判！

摘要 簡單介紹： 200mm線紋尺 國標(biāo)二等線紋尺 玻璃線紋尺 標(biāo)準(zhǔn)線紋尺適用于國家計(jì)量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計(jì)量器具和精密儀器進(jìn)行**檢驗(yàn)和校正。玻璃線紋尺200mm，玻璃線紋尺200mm

摘要 簡單介紹： 100mm線紋尺 國標(biāo)二等線紋尺 玻璃線紋尺 標(biāo)準(zhǔn)線紋尺適用于國家計(jì)量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計(jì)量器具和精密儀器進(jìn)行**檢驗(yàn)和校正。100mm二等線紋尺，100mm二等線紋尺

摘要 簡單介紹： 50mm線紋尺 國標(biāo)二等線紋尺 玻璃線紋尺 標(biāo)準(zhǔn)線紋尺適用于國家計(jì)量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計(jì)量器具和精密儀器進(jìn)行**檢驗(yàn)和校正。50mm玻璃線紋尺，50mm玻璃線紋尺

摘要 簡單介紹： 10mm線紋尺 國標(biāo)二等線紋尺 玻璃線紋尺 標(biāo)準(zhǔn)線紋尺適用于國家計(jì)量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計(jì)量器具和精密儀器進(jìn)行**檢驗(yàn)和校正。10mm國標(biāo)二等線紋尺，10mm國標(biāo)二等線紋尺

摘要 簡單介紹： 1mm線紋尺 國標(biāo)二等線紋尺 玻璃線紋尺 標(biāo)準(zhǔn)線紋尺適用于國家計(jì)量單位、企業(yè)測量室、研究所、精密加工廠，對計(jì)量器具和精密儀器進(jìn)行**檢驗(yàn)和校正。1mm國標(biāo)二等玻璃線紋尺 1mm國標(biāo)二等玻璃線紋尺

摘要簡單介紹： 長平晶210，長平晶310，長平晶，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶，平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。適用于光學(xué)加工廠、廠...

摘要簡單介紹： 長條平面平晶310，長平晶310，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。長條平面平晶310尺寸310X4...

摘要簡單介紹： 長條平晶210，長平晶，平面平晶，方形平面平晶，長條平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。長條平晶210尺寸210x40x25mm，...

摘要簡單介紹： 平行平晶75-100用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量...

摘要簡單介紹： 平行平晶50-75用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被...

摘要簡單介紹： 平行平晶25-50用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被...

摘要簡單介紹： 平行平晶0-25用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測...

摘要簡單介紹： Ф600平面平晶，上等平晶，Φ600平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。Ф...

摘要簡單介紹： Φ500平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。Ф500平面平晶，上等平晶，Ф...

摘要簡單介紹： Φ400平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。Ф400平面平晶，上等平晶，Ф...

摘要簡單介紹： Ф350平面平晶，上等平晶，Φ350平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。Ф...

摘要簡單介紹： Φ300平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、...

摘要簡單介紹： Φ250平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、...

摘要簡單介紹： Φ200平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、...

摘要簡單介紹： Φ150平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、...

摘要簡單介紹： Φ100平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、...

摘要簡單介紹： Φ80平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、實(shí)...

摘要簡單介紹： Φ60平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、上等平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、實(shí)...