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　　傳統(tǒng)三相電表使用電流互感器（CT）檢測相電流和零線電流。CT的優(yōu)勢之一是能夠在數(shù)百伏的電力線與電表地（通常連接到零線）之間提供固有的電隔離。CT可以實現(xiàn)良好的線性度；通過調(diào)整匝數(shù)比和負載電阻，可以靈活地測量各種類型的電流。然而，CT用于電表時也有一些缺點。首先，外部直流磁場可能會使CT的磁芯飽和。現(xiàn)在，非常強大的稀土直流磁體很容易為普通民眾所獲得并應用于竊電。其次，電源電子設備也能使CT飽和，例如用于分布式太陽能發(fā)電的直連逆變器，它在線路上產(chǎn)生直流電流。制造商可以通過屏蔽和使用直流兼容CT來克服這兩種影響，但這會增加成本。有人說，無論是何種CT，都可以找到一個永磁體來干擾它。第三，CT會引入一個與線電流頻率相關的測量相位延遲。如果應用僅關注線電流的基波成分，那么補償此延遲相對容易。然而，測量諧波成分日益變得重要，而要補償基波和所有諧波的總延遲則非常困難。
　　
　　其它電流傳感器在三相電表應用中使用較少，包括羅氏線圈等di/dt傳感器或霍爾效應傳感器。雖然這些傳感器在某些應用中具有優(yōu)勢，但也存在特殊的困難。例如，羅氏線圈具有出色的線性度，可以檢測非常高的電流，但難以制造，而且難以實現(xiàn)良好的抗擾度，不適合的低電流測量。在防竊電方面，羅氏線圈也容易受交流磁場干擾?；魻栃獋鞲衅饕髮囟仁д{(diào)進行主動補償，而且本身很容易受磁場影響。
　　
　　分流電阻與三相電能計量
　　
　　近年來，在成本、磁場抗擾度和尺寸等因素的推動下，分流電阻在單相電表中的使用迅速增加。許多情況下，單相電表以線電壓為基準，因而無需額外的隔離。在三相電表中，必須在各分流電阻與電表內(nèi)核之間提供一個隔離柵，這是嚴重的挑戰(zhàn)。熱量也是一個問題，迫使分流電阻一般只能用于zui大電流不超過120A的電表。
　　
　　我們先考慮一個三相系統(tǒng)的A相及其負載。假設利用分流電阻來檢測相電流（圖1）。　　
　　這恰好是一個單相電表配置：分流電阻位于電力線上，一個分壓器檢測相至零線電壓。分流電阻和分壓器上的電壓由一個模數(shù)轉換器（ADC）檢測。地為分流電阻與分壓器共用的極點。單相電表大部分用于住宅，其zui大電流一般低于120A。這一限制加上低成本要求，使得分流電阻成為單相電能計量中使用zui廣泛的電流傳感器。
　　
　　所有三相都復制這一方案，各ADC有其自己的地（圖2）。　　管理所有活動的微控制器（MCU）與零線處于相同的電位，為了在ADC與MCU之間進行通信，必須隔離數(shù)據(jù)通道。這樣，每個ADC都有其自己的隔離電源（圖3）。　　這種電表架構已在使用：雙通道ADC利用光耦合器或芯片級變壓器，跨越隔離柵將信息串行傳輸?shù)組CU。隔離電源利用獨立器件或采用芯片級變壓器的隔離DC-DC轉換器來構建。
　　
　　理想情況下，所有相電流和電壓都應同步采樣，以便利用瞬時值進行全面的三相分析。但是，各相的ADC讀數(shù)*獨立，因為不存在ADC同步。這是這種架構的*個局限。使用電流互感器或羅氏線圈的電表則不存在這種問題，因為它們可以使用一個計量模擬前端（AFE）來同時讀取所有相電流和電壓。
　　
　　這種架構的另一個問題是高器件數(shù)：一個MCU、三個ADC、三個多通道數(shù)據(jù)隔離器以及四個電源。使用CT的電表不存在這個問題，因為電路板通常具有一個MCU、一個計量AFE和一個電源。
　　
　　那么，如何構建一款具有分流電阻的優(yōu)勢，器件數(shù)對于這種架構而言zui少（即一個MCU、一個電源和三個ADC），并且能對所有相電流和電壓同步采樣的電表呢？
　　
　　隔離式ADC架構
　　
　　答案是構建一種集成至少兩個ADC、一個隔離式DC-DC轉換器和數(shù)據(jù)隔離器，并能使屬于不同芯片的ADC同步采樣數(shù)據(jù)的芯片（圖4）。MCU的電源VDD也為此芯片供電。采用芯片級變壓器技術的隔離式DC-DC轉換器為ADC的*級提供隔離電源。一個ADC檢測分流電阻上的電壓，另一個ADC利用分壓器檢測相至零線電壓。由分流電阻極點之一所確定的地就是芯片隔離側的地。ADC為sigma-delta型，僅*級放在芯片的隔離側。*級輸出的位流經(jīng)過芯片級變壓器，后者是隔離數(shù)據(jù)通信通道的一部分。芯片的非隔離側收到位流，濾波后將其變?yōu)?4位字，然后通過SPI串行端口提供給外部。
　　
　　芯片級變壓器技術對這種新型ADC架構的貢獻zui大。與光耦合器相比，ADI公司獲得的iCoupler數(shù)字隔離器更可靠、尺寸更小、功耗更低、通信速度更快、時序精度更佳。但這還不夠。隔離式sigma-delta調(diào)制器上市已久，采用光耦合器或芯片級變壓器。芯片級變壓器技術的zui重要貢獻是伴隨isoPower隔離式DC-DC轉換器，它可以與ADC、數(shù)字模塊、隔離數(shù)據(jù)通道一同集成到一個表貼薄型封裝中。　　芯片級變壓器的核心是空氣，因此iCoupler數(shù)字隔離器和isoPower隔離式DC-DC轉換器根本不受永磁體的影響，使得電表這一側*不受直流磁場干擾。這種變壓器對交流磁場同樣具有高抗擾度。線圈面積非常小，要影響isoPower線圈運行，必須產(chǎn)生一個10kHz、2.8T的磁場。換言之，為了影響芯片級變壓器的行為，必須讓69kA的10kHz電流通過一根導線，并讓該導線與芯片相隔5mm。
　　
　　信息利用*頻PWM脈沖傳輸?shù)礁綦x柵另一側。由此產(chǎn)生的高頻電流會在電路板中傳播，引起邊沿和偶極子輻射。隔離式DC-DC轉換器的負載僅由sigma-deltaADC的*級構成，其幅度是已知的。因此，線圈是針對已知負載進行設計，從而可以降低一般與DC-DC轉換器相關的輻射，并且無需四層電路板。使用這種架構的IC時，電表制造商可以使用兩層電路板，并通過所需的CISPR22ClassB標準。
　　
　　為使與MCU的接口盡可能簡單，芯片的數(shù)字模塊對來自*級的位流進行濾波，并通過簡單的從機SPI串行端口提供24位ADC輸出。電表每一相都有一個隔離式ADC，因此獲得一致ADC輸出的挑戰(zhàn)仍未解決。如果采用同一時鐘工作，則所有相上的ADC*級可以在同一時刻采樣。如果圖4中的CLKIN信號產(chǎn)生自MCU，則這很容易實現(xiàn)。另一個方案是使用一個晶振為一個芯片產(chǎn)生時鐘，然后利用緩沖CLKOUT信號為所有其它隔離式ADC提供時鐘?？刂扑懈綦x式ADC以在同一時刻產(chǎn)生ADC輸出。現(xiàn)在，電表就能利用分流電阻檢測電流，執(zhí)行、全面的三相分析。
　　
　　圖5顯示一款采用三個隔離式ADC的三相電表。該電表僅有一個電源為MCU和隔離式ADC供電。MCU利用SPI接口從各IC讀取ADC輸出。　　上面的說明假設利用外部MCU執(zhí)行計量計算。對于希望解決方案包括計量計算的電表制造商，可以將隔離式ADC耦合到一個IC以執(zhí)行所有計量計算，如圖6所示。　　基于此架構的新產(chǎn)品
　　
　　此架構已被ADI公司的一系列新產(chǎn)品采用：ADE7913、ADE7912、ADE7933和ADE7932。圖7顯示了ADE7913的框圖。它與圖4非常相似，但有一個額外ADC通道用于檢測與溫度傳感器復用的輔助電壓。該輔助電壓可以是斷路器上的電壓，溫度傳感器可用于校正分流電阻的溫度變化。ADE7912是一個變體，無輔助電壓測量功能，但有溫度傳感器。
　　
　　ADE7933和ADE7932將SPI接口替換為位流接口，其余特性分別與ADE7913和ADE7912相同。它們就是圖6所示的隔離式ADC。圖中的計量IC已通過ADE7978實現(xiàn)。　　結束語
　　
　　本文說明了一種新型隔離式ADC架構。它包含一個isoPower隔離式DC-DC轉換器，利用MCU電源為隔離柵另一側的多通道sigmadeltaADC*級供電。ADC輸出的位流經(jīng)過iCoupler數(shù)據(jù)隔離器，由數(shù)字模塊接收。此模塊對其進行濾波，產(chǎn)生24位ADC輸出，可利用簡單的SPI接口讀取。一個ADC可以測量經(jīng)過一個分流電阻的電流，第二個ADC可以利用分壓器測量相至零線電壓，第三個ADC可以測量輔助電壓或溫度傳感器。它支持三相電表使用分流電阻，確保*不受直流和交流磁場干擾，執(zhí)行電流檢測時不會產(chǎn)生任何相移，同時可降低系統(tǒng)總成本。小尺寸解決方案確保電路板非常小，只需安裝非常少的器件。集成式isoPower芯片級變壓器針對已知ADC負載而設計，輻射降至zui低，并通過測試，利用兩層電路板即可達到CISPR22ClassB標準。
　　
　　當然，使用分流電阻的電流檢測并不局限于電能計量應用，電能質(zhì)量監(jiān)控、太陽能逆變器、過程監(jiān)控和保護設備均可受益于這種新型ADC架構。