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測(cè)定顆粒大小的常用方法的比較

 １．篩分  原理：依賴篩孔大小的機(jī)械分離作用。優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單直觀。動(dòng)態(tài)范圍較小，常用于大于４０μm的顆粒測(cè)定。 缺點(diǎn)：速度慢，一次只能測(cè)量一個(gè)篩余值，不足以反映粒度分布；微小篩孔制作困難；誤差大，通常達(dá)到10%-20%；小顆粒由于團(tuán)聚作用通過篩孔困難；有人為誤差，導(dǎo)致可信度下降。

    2．沉降  原理：斯托克斯定律。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄；小粒子沉降速度很慢，對(duì)非球型粒子誤差大；由于密度一致性差，不適用于混合物料；重力沉降儀適用于10微米以上的粉體，如果顆粒很細(xì)則需要離心沉降。

    3．庫爾特電阻法  原理：顆粒通過小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻脈沖計(jì)數(shù)。優(yōu)點(diǎn)：可以測(cè)定顆粒總數(shù)，等效概念明確；操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍小，1：20左右；對(duì)介質(zhì)的電性能有嚴(yán)格要求；容易出現(xiàn)堵塞小孔現(xiàn)象。

4．顯微鏡法  原理：光學(xué)成像。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單直觀；可作形貌分析。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄，1：20；測(cè)量時(shí)間長，約20分鐘；樣品制備操作較復(fù)雜；采樣的代表性差；對(duì)超細(xì)顆粒分散有一定的難度，受衍射極限的限制，無法檢測(cè)超細(xì)顆粒。

    5．電鏡  原理：電子成像。優(yōu)點(diǎn)：直觀；分辨率高。缺點(diǎn)：取樣量少，沒有代表性，樣品制備操作復(fù)雜；儀器價(jià)格昂貴。

    6．激光粒度儀  原理：激光衍射／散射。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)量速度快，約1分鐘；動(dòng)態(tài)范圍大，約1：1000以上；重復(fù)性好；準(zhǔn)確度高，分辨率高；操作簡(jiǎn)便；可對(duì)動(dòng)態(tài)顆粒群進(jìn)行跟蹤測(cè)試分析，是目前的粒度儀，在很多場(chǎng)合可替代其他測(cè)量方法，是粒度儀發(fā)展的方向。