超聲電聲法Zeta電位儀是顆粒表面處理的重要手段

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超聲電聲法Zeta電位儀是顆粒表面處理的重要手段

來源：蘇州胤煌精密儀器科技有限公司 2025年03月03日 07:29

　　超聲電聲法Zeta電位儀主要通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。該儀器采用質(zhì)量交換法測定Zeta電位。所謂質(zhì)量交換型Zeta電位測定儀實際上仍是根據(jù)電泳速度測定Zeta電位，但不是逐個觀察顆粒的運動速度，而是把速度轉(zhuǎn)化為質(zhì)量，將定向運動的顆粒收集在電極上，根據(jù)電極的增重計算Zeta電位。收集顆粒的電極就是可以自由裝卸的樣品池的底部，它的增重是通過稱量樣品池實驗前與實驗后的重量求得的。由于電極在收集相反電荷顆粒的同時，還要排出同體積的液體介質(zhì)，求得的增重實際上是沉積在電極上的顆粒重量減去同體積液體的重量。

　　超聲電聲法Zeta電位儀測量粒徑分布：

　　1.測量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)（Refractive Index）

　　2.用卷紙輕輕點拭樣品池外側(cè)水滴，切勿用力擦拭，以防將樣品池劃傷，如發(fā)現(xiàn)樣品池有劃紋，需更換。

　　3.手盡量避免觸摸樣品池下端，否則會影響光路。

　　4.一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡。

　　5.實驗室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)，不可用于測量有機分散體系。

　　6.實驗室提供的樣品池，測量溫度不可高于50攝氏度。

　　7.如需測量有機分散體系或高于50攝氏度，請自帶石英比色皿。

　　8.使用濾紙過濾時，舍去過濾后的樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進入樣品池。

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