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　　EFI模塊測試系統(tǒng)是由NI測試儀、模擬負載箱、電源、條碼掃描和測試夾具五部分組成。測試人員手動將模塊放入夾具，并將條碼掃描以后，系統(tǒng)將自動執(zhí)行模塊功耗、輸入端對地電阻、A/D采樣值、輸出端漏電流、FET鉗位電壓、E2PROM校驗等多項檢驗。同時記錄檢測數(shù)據(jù)及通過/失敗狀態(tài)，并將數(shù)據(jù)自動存儲為TXT文件用于將來的數(shù)據(jù)分析。
　　
　　一、硬件結構
　　
　　EFI測試系統(tǒng)的硬件結構參見圖1。　　　　
　　它包括NI測試儀（CPU、DAQ、OSC、WAVEFORMGENERATE、MATRIXSWITCH）、模擬負載箱、電源、條碼掃描和測試夾具五部分。
　　
　　模塊的檢測包括輸入端口硬件、輸出端口硬件及特定工況下的功能檢測三部分。為完成輸入端口的硬件檢測，選用PXI－6070E多功能卡進行數(shù)據(jù)采集，它有64路12位模擬量輸入，2路模擬量輸出，及八條數(shù)字I/0端口。端口切換選用了NI-2503開關卡，它是雙線24位開關卡，負責將被測試端口與采集卡PXI-6070E相連。
　　
　　同樣，對輸出端的硬件切換由另一塊NI-2503卡完成。數(shù)據(jù)采集使用NI-5112示波器卡完成。它的100MHz頻寬可以確保對點火及噴油脈沖的采集。采集到的數(shù)據(jù)將會放到的緩沖區(qū)中。通過進行數(shù)據(jù)分析，我們就可以得到輸出信號脈沖的zui大值及頻率值。
　　
　　完成硬件的檢測后,同樣利用BOOTSTRAP模式,將標定數(shù)據(jù)送入模塊E2PROM中,然后將芯片切換到單片模式。模擬正常工況檢測模塊工作狀態(tài)，完成特定工況下的功能檢測。通過以上的測試,確保了模塊的可靠性。
　　
　　二、軟件設計
　　
　　在擁有計算機及相應硬件卡的環(huán)境下，LABWINDOWS以其基于C語言的開發(fā)環(huán)境，良好的用戶界面（如圖2所示）、強大的庫函數(shù)和方便快捷的調試手段，使設計者能以zui快的速度設計、調試和開發(fā)實際的測試系統(tǒng)，大大降低了工作量。　　　　
　　模塊檢測系統(tǒng)軟件可以工作在三種模式下：
　　
　　A.硬件診斷模式
　　
　　B.功能測試模式
　　
　　C.EOL測試模式
　　
　　對輸入端口的硬件檢測，可以通過調用NI-2503，NI-5112及PXI-6070E的驅動函數(shù)，來非常方便地完成。
　　
　　芯片的A/D采樣值及輸出端口的硬件檢測，需要下載測試程序（使用匯編語言編寫約1KB）。利用軟件編程,首先要進入68HC11的BOOTSTRAP模式，然后將測試程序下載到芯片。通過調用測試程序的子程序，可以完成包括讀/寫芯片RAM、E2PROM區(qū)，校驗RAM、E2PORM區(qū)，A/D采樣值讀取，設定PWM輸出脈沖，校驗版本號等多項功能。
　　
　　功能測試時，使芯片工作在單片模式，通過調用NI-5411任意波型發(fā)生器驅動函數(shù)來模擬轉速信號的60-2波型，同時輸入相應的電壓信號，模擬各傳感器信號輸入，完成特定工況下的功能測試。
　　
　　所有測試結果將會存入到的文件中，用于統(tǒng)計CPK及數(shù)據(jù)分析。
　　
　　三、分析評價
　　
　　通過以上實際應用，LABWINDOWS軟件開發(fā)的測試系統(tǒng)具有以下顯著優(yōu)點：
　　
　　1.加快了系統(tǒng)的開發(fā)周期，降低了開發(fā)難度。使用LABWINDOWS可以方便地調用硬件驅動程序及功能函數(shù),降低了工作強度，加速了開發(fā)進程。
　　
　　2.減少了測試周期。使用LABWINDOWS，使數(shù)據(jù)傳輸速度及測量時間得到提高,減少了產品的測量時間，每個模塊的測量時間小于50s。
　　
　　3.具有很高的通用性。使用相同的硬件環(huán)境，僅對軟件進行微調，就可以測量ECS、DIS等系列產品。