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TM Electronics主機介紹-BT Integra 爆破儀：

TME BT Integra 是一款臺式，高分辨率（0.001 psig）測試儀器，占地面積小，操作簡便。電子壓力和流量控制可提供精確和可重復(fù)的測試條件，而自動和高流量輸出可用于大型多孔包裝的測試。應(yīng)用范圍包括各種柔性或剛性，多孔和無孔，開放或密封包裝。

l   開箱即用的爆破測試模式：此設(shè)備使用內(nèi)建參數(shù)提供開箱即用的自動爆破測試，因此將要進行爆破測試的配件連接后，操作員只需按一個按鈕即可完成測試。

l   自動或手動參數(shù)定義：智能BT Integra-Pack可以在自動模式下測試任何包裝，而無需輸入測試參數(shù)，且不僅如此，手動模式下，使用戶可以輸入像是斜坡率控制(ramp rate control)和回壓下降靈敏度(back   pressure drop sensitivity)之類的參數(shù)。這樣可以測試特殊樣品，或執(zhí)行特定研究和數(shù)據(jù)收集活動。

l   圖標的觸摸式彩色顯示器：觸摸彩色顯示屏可在各種數(shù)據(jù)處理和查看屏幕中提供輕松清晰的指示。簡單的圖標使您可以輕松選擇測試模式，從自動測試設(shè)置更改為手動測試設(shè)置，以數(shù)字和圖形格式查看測試結(jié)果以及安全地進行操作和處理測試數(shù)據(jù)記錄。

BT Integra是一個集合各種模式的過程控制工具，不僅在測試時有價值，而且還能夠?qū)?shù)據(jù)從過程控制傳輸?shù)劫|(zhì)量部門，也使其成為質(zhì)量控制工具。其目的是使您能夠生產(chǎn)與隨附產(chǎn)品有更佳的品質(zhì)。

爆破測試

Burst   Test

以均勻的速率使包裝膨脹至密封件在其最弱點處分離來確定包裝密封件的最小密封強度。密封分離時的壓力是爆破壓力。

蠕變測試

Creep   Test

將包裝充氣至恒定壓力并在該壓力下保持的時間。如果密封在測試期間沒有打開，則通過。如果密封在測試期間打開，則失敗。

蠕變至破裂

Creep   to Failure

是一種類似于蠕變測試的壓力保持測試。此測試期間，包裝被加壓至設(shè)定壓力，通常高于試驗壓力，并保持在該壓力下直至密封剝離。

泄漏測試

Leak   Test

此系統(tǒng)進行泄漏測試僅是壓力感測，當被測產(chǎn)品連接至前端測試口時，內(nèi)部閥門將允許空氣（或其他氣體）對零件加壓并將連接至傳感器。從被測部件的泄漏中檢測到壓力變化低至0.001   psi。