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尊敬的客戶：

       您好，非常感謝您長期以來對我們的支持！鉑悅儀器將出席FPD&SEMICON China 2020，在這一年一度的半導(dǎo)體行業(yè)盛會上，我們將展示新的產(chǎn)品及前沿的技術(shù)，并期待與業(yè)界專家交流市場商機(jī)，洽談合作機(jī)會。

在此，誠摯邀請您蒞臨我們的展位！

會議時間：2020年6月27日-29日

會議地點(diǎn)：上海新國際博覽中心

鉑悅儀器（上海）有限公司

2020年6月

 鉑悅展位：E1150 

 展示產(chǎn)品 

德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）

德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。臺階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

光學(xué)輪廓儀Contour GT

用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。它積累了在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達(dá)亞納米級?？删幊痰腦YZ控制的掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界強(qiáng)的儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了大的便利。

原子力顯微鏡Dimension FastScan Icon

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• 高分辨率成像 
• 完整的納米尺度定量信息 
• 潛力無限 – 靈活，開放
• 超乎想象的簡單

X射線透工業(yè)CT-EasyTom S

3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)

性能   · 微聚焦發(fā)生器：CT分辨率：2μm

          · 檢測器：快掃描速度：6秒。