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簡(jiǎn)述CCT鹽霧箱測(cè)試指南

        因?yàn)镃CT測(cè)試通常比較復(fù)雜，且需要多循環(huán)暴露，容易使人混淆。下述的測(cè)試指南可以幫助操作者了解CCT暴露測(cè)試條件可能帶來(lái)各個(gè)步驟之間的差異，并幫助不同實(shí)驗(yàn)室之間就測(cè)試結(jié)果達(dá)成共識(shí)。
使用參照樣品

  如果可能，參照樣品（測(cè)試過(guò)，已知性能的樣品）應(yīng)和被測(cè)樣品同步進(jìn)行測(cè)試，如有可能使用多種參照樣品。參照樣品有助于證判被測(cè)樣品的測(cè)試性能。參照樣品的使用可以幫助將重復(fù)測(cè)試的測(cè)試條件的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化，也能對(duì)不同的重復(fù)測(cè)試的結(jié)果比較進(jìn)行指導(dǎo)。

  測(cè)試樣品的制備

  常見的做法是在進(jìn)行CCT測(cè)試之前，在有涂層的樣品上劃線。這樣可以破壞涂層，以加速腐蝕進(jìn)程。當(dāng)使用石擊儀時(shí)，建議按ASTM D3170標(biāo)準(zhǔn)操作。

  越來(lái)越多的證據(jù)表明，劃痕深度的不同會(huì)嚴(yán)重影響CCT鹽霧測(cè)試結(jié)果。這對(duì)鍍鋅底材的影響zui大。大多數(shù)情形下，劃痕應(yīng)該深入到金屬底材。因?yàn)閯澓鄣膸缀涡螤钜矔?huì)影響結(jié)果，必須記錄所使用的劃線工具?？墒褂蔑@微鏡來(lái)觀察劃痕損害，ASTM D1654標(biāo)準(zhǔn)中有劃痕方法的描述。