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X射線檢測(cè)

來(lái)源：蘇州德斯森電子有限公司 2024年08月11日 07:19

射線檢測(cè)，是因?yàn)?X射線穿過(guò)被照射物體后會(huì)有損耗，不同厚度不同物質(zhì)對(duì)它們的吸收率不同；

而底片放在被照射物體的另一側(cè)，會(huì)因?yàn)樯渚€強(qiáng)度不同而產(chǎn)生相應(yīng)的圖形,評(píng)片人員就可以根據(jù)影像來(lái)判斷物體內(nèi)部的是否有缺陷以及缺陷的性質(zhì)。

射線檢測(cè)的適用性和局限性：

1、對(duì)檢測(cè)體積型的缺陷比較敏感，比較容易對(duì)缺陷進(jìn)行定性。

2、射線底片易于保留，有追溯性。

3、直觀顯示缺陷的形狀和類型。

4、缺點(diǎn)不能定位缺陷的埋藏深度，同時(shí)檢測(cè)厚度有限，底片需專門送洗，并且對(duì)人身體有一定害，成本較高。

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