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　　摘要：至今為止，購置費(fèi)用過高仍然是非接觸位移測量控制系統(tǒng)廣泛應(yīng)用的障礙。如今，塑料加工設(shè)備的生產(chǎn)廠家都是使用價(jià)格較低的直線線性電位計(jì)進(jìn)行位移的測量和控制，但是這種設(shè)備在使用較長時(shí)間后會出現(xiàn)嚴(yán)重的磨損而產(chǎn)生線性偏離現(xiàn)象，對用戶造成的后果是要花很多錢進(jìn)行維修和承受停產(chǎn)的嚴(yán)重?fù)p失。文章介紹了一種非接觸位移測量的直線位移傳感器，供讀者們了解。
　　
　　至今為止，購置費(fèi)用過高仍然是非接觸位移測量控制系統(tǒng)廣泛應(yīng)用的障礙。Balluff公司的Micropulse-AT（微脈沖－AT）解決了這個(gè)問題。作為直線線性電位計(jì)的一種更新?lián)Q代替代方案，Balluff公司推出了Micropulse-AT直線位移傳感器，它具有非接觸測量的優(yōu)點(diǎn)并且購置價(jià)格較低。
　　
　　如今，塑料加工設(shè)備的生產(chǎn)廠家都是使用價(jià)格較低的直線線性電位計(jì)進(jìn)行位移的測量和控制，但是這種設(shè)備在使用較長時(shí)間后會出現(xiàn)嚴(yán)重的磨損而產(chǎn)生線性偏離現(xiàn)象，對用戶造成的后果是要花很多錢進(jìn)行維修和承受停產(chǎn)的嚴(yán)重?fù)p失。Balluff公司的工程師們研制出了*應(yīng)用可節(jié)省成本的Micropulse-AT直線位移測量控制系統(tǒng)。這種新型的BalluffMicropulse-BTL5裝置有一個(gè)圓形的殼體。這種位移傳感器的分辨率為≤10mm，測量范圍為50～1500mm時(shí)重復(fù)定位精度為≤20mm。
　　
　　外殼防護(hù)等級為IP67的Micropulse-AT裝置放在一個(gè)陽極氧化的鋁密閉異型殼體中。這樣，系統(tǒng)可以防塵、防水及防振動和沖擊的影響。這種圓形的殼體和其諸多的優(yōu)點(diǎn)為安裝提供了方便和靈活性。它可以固定在機(jī)器上的任何部位。只要定位磁鐵與傳感器之間，垂直距離不超過8mm，由于橫向力及信號中斷而造成的位移測量系統(tǒng)破壞的可能性因此可以排除。磁鐵的放置可以有±5mm的垂直偏差。Balluff位移傳感器可以用市場上常用的標(biāo)準(zhǔn)元件進(jìn)行固定安裝。因?yàn)槲灰苽鞲衅饔休^大的安裝公差，所以不需要進(jìn)行費(fèi)時(shí)的結(jié)構(gòu)修改和精密調(diào)整。有兩個(gè)定位磁鐵位置傳感器的Micropulse-AT裝置特別節(jié)省成本,不需增加投資就可以用一個(gè)測量系統(tǒng)測量兩種軸向的運(yùn)動。
　　
　　用一個(gè)M12插頭連接線進(jìn)行電氣連接。Micropulse-AT裝置的工作電壓為24V，有10V的模擬輸出或一個(gè)P110數(shù)字的脈沖接口，用于不間斷的數(shù)據(jù)傳輸。它可以和Balluff公司的所有通用的處理卡以及各個(gè)制造商的控制裝置相匹配，可以進(jìn)行500m的信號安全傳輸。使用自己的控制和信號處理裝置的企業(yè)也可以達(dá)到高分辨率的脈沖接口的分析結(jié)果。
　　
　　Balluff的Micropulse-BTL5型傳感器可作為總線系統(tǒng)。例如，ProfibusDP系統(tǒng)可提供一種沒有分配器的多插頭的型號。在這種情況下母線導(dǎo)線和供電電壓分開。采用Profibus和Canopen系統(tǒng)在裝置上zui多可將4個(gè)位置的速度數(shù)據(jù)和診斷數(shù)據(jù)傳輸?shù)娇刂蒲b置，位置的分辨率為5mm，速度為0.1mm/s。此外，通過和Wago公司合作，還可以將BalluffMicropulse-BTL5型裝置和市場上常見的所有的母線系統(tǒng)相連接。這種連接是通過一個(gè)帶有整體的用于脈沖接口的ASIC裝置和相應(yīng)的母線耦合器的750系列端子來實(shí)現(xiàn)的。
　　
　　現(xiàn)在也有帶有數(shù)字脈沖接口/一體化協(xié)議（DPI/IP）的脈沖接口的Micropulse-AT裝置，這是一個(gè)在控制裝置和位移傳感器之間進(jìn)行直接數(shù)據(jù)交換的協(xié)議。該協(xié)議的好處是：簡單的自動的參數(shù)化，可辨認(rèn)損壞的或已經(jīng)更換的測量系統(tǒng)以及提高機(jī)器的安全性。
　　
　　（本文轉(zhuǎn)自電子工程世界：http://.cn/Test_and_measurement/2012/0802/article_5570.html）