手持地質(zhì)勘探分析儀-儀表百科

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手持地質(zhì)勘探分析儀-儀表百科

來源：贏洲科技（上海）有限公司 2024年01月09日 11:02

　　手持地質(zhì)勘探分析儀的工作原理主要是基于無線電波的反射原理和X射線光譜分析技術(shù)。

　　首先，利用無線電波的反射原理來探測地下或隧道前方未掘進處的不同介質(zhì)分布及位置。無線電波在傳播過程中，當遇到不同介質(zhì)時，會發(fā)生反射和折射現(xiàn)象。通過測量反射電磁波的強度和相位差，可以準確獲取地下礦石、土壤或巖石的信息，進而確定其分布和位置。
手持地質(zhì)勘探分析儀

　　其次，還采用了X射線光譜分析技術(shù)。X射線管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時，可以激發(fā)樣品中對應元素原子的內(nèi)層電子，并出現(xiàn)殼層空穴。此時原子處于不穩(wěn)定狀態(tài)，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將這些特征X射線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號，從而得到待測元素的特征信息。通過分析這些信息，可以確定樣品中元素的種類和含量。

　　另外，一些還會采用其他的探測技術(shù)，如超高頻電磁波技術(shù)、中子激活技術(shù)等，以進一步提高探測的準確性和精度。

　　總的來說，手持地質(zhì)勘探分析儀的工作原理是通過多種技術(shù)的綜合應用，實現(xiàn)對地質(zhì)材料的無損檢測和分析，為地質(zhì)勘探和資源開發(fā)提供重要的技術(shù)支持。

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