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在現(xiàn)代科技的發(fā)展中,幾何量測量已經(jīng)成為許多工程領(lǐng)域的重要部分。通過準(zhǔn)確測量物體的形狀、尺寸等幾何屬性,可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、機(jī)械加工、工程測量等提供重要的依據(jù)。如何進(jìn)行幾何量測量以及如何選擇合適的儀器?
幾何量測量主要涉及到長度、角度、形狀等幾個(gè)方面,其中長度測量是基本的一種。長度測量的基本原理是利用測量儀器的刻度尺或測量傳感器,通過對物體兩個(gè)端點(diǎn)之間的距離進(jìn)行測量,從而確定物體的長度。而角度測量則是通過測量物體之間的夾角來確定物體的角度。形狀測量則是通過測量物體表面的曲率、彎曲程度等指標(biāo),來描述物體的形狀特征。
傳統(tǒng)的幾何量測量儀器包括千分尺、角度尺、游標(biāo)卡尺等,這些儀器能夠滿足一般的幾何量測量需求。但是隨著科技的發(fā)展,越來越多高精度測量儀器被應(yīng)用于幾何量測量領(lǐng)域。從納米級光學(xué)3D表面輪廓儀通過光學(xué)原理測量物體的三維形狀,到百米級激光跟蹤儀高精度(μm級)、大工作空間(百米級)的坐標(biāo)和空間姿態(tài)測量,大大提高了幾何量測量的精度和效率:
SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,從0.1nm級別的超光滑表面到數(shù)十微米級別的粗糙度表面,儀器均能實(shí)現(xiàn)高精度測量。
MarsClassic系列三坐標(biāo)是國產(chǎn)三坐標(biāo)測量機(jī),控制器、測頭測座、軟件全自主研發(fā),安全可控。最大允許示值誤差(1.5+L/350)μm,測量行程從500mmx700mmx500mm延伸到800mmx1000mmx600mm,提供了豐富的計(jì)量解決方案。
SJ57系列粗糙度輪廓儀一體機(jī)一次測量同時(shí)評定輪廓和粗糙度參數(shù)。SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達(dá)0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。納米級大量程粗糙度測量,高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性特點(diǎn),是大曲面測量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子)領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測量的利器。
Novator系列全自動(dòng)影像儀0.1μm的光柵顯示分辨率,結(jié)合飛拍測量、圖像拼接、環(huán)光獨(dú)立升降、圖像匹配、無接觸3D掃描成像等功能,多方面滿足測量需求。
GTS系列激光跟蹤儀測量半徑80米,是高精度(μm級)、大工作空間(百米級)、便攜式的大尺寸坐標(biāo)測量機(jī),可以和多種形式的合作目標(biāo)測頭配合使用,能對大尺度空間內(nèi)的點(diǎn)、線、面、曲面等幾何特征進(jìn)行精確測量;能根據(jù)合作目標(biāo)的精確空間姿態(tài)對被測工件的內(nèi)部特征、隱藏特征或曲面等復(fù)雜特征進(jìn)行快速、高精度的測量。
如何選擇合適的儀器?應(yīng)根據(jù)需要確定所要測量的幾何屬性和精度要求,來選擇適合的測量儀器。
幾何量測量是現(xiàn)代工程領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要技術(shù)。通過準(zhǔn)確測量物體的形狀、尺寸等幾何屬性,可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、工程測量等提供重要的依據(jù)。在測量過程中,我們需要了解基本原理和精密儀器,并注意選擇合適的儀器、控制環(huán)境因素,并提高操作人員的技術(shù)水平。只有這樣,我們才能獲得準(zhǔn)確、可靠的幾何量測量結(jié)果,為工程實(shí)踐提供有力支撐。
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