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對(duì)于液相介質(zhì)中納米顆粒的粒徑分布，一般通過對(duì)一定區(qū)域中納米顆粒的不定向布朗運(yùn)動(dòng)速率的測(cè)量來表征，動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)被用于此時(shí)的布朗運(yùn)動(dòng)速率評(píng)價(jià)。

顆粒越小，顆粒在介質(zhì)中的布朗運(yùn)動(dòng)速率越快，儀器監(jiān)測(cè)的區(qū)域中顆粒散射光光強(qiáng)的漲落變化也越快。然而，當(dāng)顆粒大至微米級(jí)后，顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速率顯著降低，同時(shí)重力導(dǎo)致的顆粒沉降和容器中介質(zhì)溫度梯度引起的顆粒對(duì)流運(yùn)動(dòng)等均變得無法忽視，限制了該粒徑測(cè)試方法的上限。

基于以上原因，動(dòng)態(tài)光散射的納米粒度儀適宜測(cè)試零點(diǎn)幾個(gè)納米至幾個(gè)微米的顆粒。納米材料的粒徑分布往往直接決定了其材料活性，分散性，易用性，穩(wěn)定性，制劑各配方的添加量等。

納米顆粒大多有較活潑的界面化學(xué)特性，其在介質(zhì)中運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)平面所帶的電位被稱為Zeta電位。

當(dāng)在樣品上加載電場(chǎng)后，帶電顆粒被驅(qū)動(dòng)做定向的電泳運(yùn)動(dòng)，運(yùn)動(dòng)速度與其Zeta電位的高低和正負(fù)有關(guān)。納米電位儀正是利用電泳光散射信號(hào)來分析電場(chǎng)中帶電顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度，進(jìn)而表征顆粒的Zeta電位。通常Zeta電位的絕對(duì)值越高，體系內(nèi)顆?；ハ嗯懦猓鼉A向于穩(wěn)定的分散。由于大顆粒帶電更多，電泳光散射方法適合測(cè)量2nm-100um范圍內(nèi)的顆粒Zeta電位。

通常高品質(zhì)的納米和Zeta電位分析儀還能分析顆粒的電位分布，對(duì)于顆粒的改性，修飾，活化或裝配的表面一致性，制劑的穩(wěn)定性等進(jìn)行評(píng)價(jià)，從而提高工藝水平和產(chǎn)品質(zhì)量。

▲ 歐美克NS-90Z Plus 納米粒度分析儀

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NS-90Z Plus升級(jí)的光學(xué)電子平臺(tái)，信噪比比前一代得到了提高，更低的噪音水平和改進(jìn)的分析算法使得納米粒徑測(cè)試的靈敏度和分辨力得到了提高，例如可以區(qū)分差異更小的納米材料，可以更準(zhǔn)確識(shí)別樣品中不同尺寸組分及其含量，對(duì)散射光信號(hào)更低的樣品的允許測(cè)試濃度更寬等。

▲ NS-90Z Plus測(cè)試：60和200nm聚苯乙烯標(biāo)樣混合

▲ NS-90Z Plus測(cè)試：10μm 聚苯乙烯微球標(biāo)樣

另一個(gè)反應(yīng)大顆粒測(cè)量真實(shí)性水平提升的案例是NS-90Z Plus對(duì)陶瓷漿料少量的微米大顆粒雜質(zhì)的測(cè)試分析。和許多工業(yè)應(yīng)用一樣，納米陶瓷漿料中可能含有的少量微米級(jí)雜質(zhì)對(duì)下游工藝和應(yīng)用是有害的，也是企業(yè)希望通過分析儀器進(jìn)行管控的重要目標(biāo)。在這個(gè)案例中，NS-90Z型號(hào)的儀器在測(cè)試中一直無法反映出來樣品中存有的如下圖在電鏡中可以找到的極少量微米級(jí)大顆粒。