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　　【方科】植物冠層分析儀在現代植物表型研究中發(fā)揮著重要的作用。我們知道植物表型研究是需要較多的現代的技術及儀器設備進行輔助的。它主要是通過研究植物的外在表型與植物的生長環(huán)境、遺傳因子等關系進行研究的。而植物冠層作為植物的重要結構在植物表型研究中有著重要的作用。

　　我們知道的植物的光合作用主體是植物冠層，因此當植物光照環(huán)境發(fā)生變化時，植物通過調整形態(tài)結構來獲得更好的生長環(huán)境，這是植物自身適應性的直接表現。而準確的結構參數獲取是了解植物形態(tài)特征對環(huán)境的響應機制的重要基礎，因此植物冠層分析儀在這類研究中十分受歡迎。例如，在黃瓜冠層結構的研究中就有使用。

　　在現代研究中為了研究黃瓜葉片在冠層內部光環(huán)境梯度變化的條件下，葉片結構對光環(huán)境的響應，需要考慮黃瓜葉片大小、葉柄長短、節(jié)間長短、方位角、葉傾角、柄節(jié)夾角等多個形態(tài)結構參數；從而了解構建了器官發(fā)生和擴展隨有效積溫的變化規(guī)律、葉片方位角和葉傾角分布規(guī)律等。才能進一步分析黃瓜葉片在不同方位區(qū)域、不同冠層高度的異質性分布特征。

　　通過植物冠層分析儀、葉面積儀等儀器數據圖像可以發(fā)現黃瓜葉片的傾斜角和方位角分布均受到光環(huán)境的明顯影響，與決定冠層內透光量的葉片數、株行距、葉面積指數、太陽高度等參數有明顯的相關關系。