激光測厚儀的測量模式簡介

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激光測厚儀的測量模式簡介

來源：深圳市大成精密設(shè)備股份有限公司 2022年06月29日 10:04

激光測厚儀使用進口超高速高精度CMOS激光位移傳感器，固定在C型架端部進行非接觸對射式測量。

在生產(chǎn)過程中，大理石C型架帶動激光探頭來回掃描，掃描過程中不斷采集膜片厚度數(shù)據(jù),采樣率為50kHz。每次掃描可采集數(shù)萬組數(shù)據(jù)，經(jīng)過算法分析濾除電磁干擾及厚度異常數(shù)據(jù)（如涂布間隙的箔材、膠帶或其他超薄超厚數(shù)據(jù)），然后分成若干分區(qū)顯示。同時通過EWMA算法和MA算法計算出膜片的橫向與縱向厚度趨勢，以線性圖或柱狀圖的形式顯示出來。還可以顯示出膜片整體厚度的3D圖像，并把掃描的厚度數(shù)據(jù)會保存成CSV表格。

在掃描過程中，每若干周期會掃描校準片進行一次自校準（自校準的頻率可調(diào)，一般掃描8趟或更多自校準一次）,保證設(shè)備長期穩(wěn)定運行。

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