DCT 粉狀電阻率測(cè)試儀

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DCT 粉狀電阻率測(cè)試儀

來(lái)源：湘潭華豐儀器制造有限公司 2011年06月30日 08:50

一：概述

本儀器主要用于測(cè)量碳素材料導(dǎo)電性能的儀器。該儀器采用手動(dòng)傳動(dòng)系統(tǒng)作為加荷機(jī)構(gòu)，其傳動(dòng)比大加荷平穩(wěn)，配用自動(dòng)顯示壓力式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力計(jì)，高精度穩(wěn)流源供電，電流、電壓自動(dòng)顯示，并且穩(wěn)定、準(zhǔn)確、直觀、方便。本儀器可用來(lái)按照ISO 10143-1995、YS/T 587.6測(cè)試粉狀材料的電阻率。

二、主要技術(shù)性能

1．zui大壓力：300Kg;

2．zui大升高距離：130mm;

3．電流輸入：0～，精度為0.001A;

4．電壓輸入：0～5V，精度為0.001V;

三：測(cè)試原理方法

本儀器是通過(guò)將要測(cè)試的顆粒料，置于一個(gè)圓柱形的上部和底部帶有兩個(gè)電極片的試樣筒中。在試樣兩端施加一定的壓力，在確保試樣與電極片接觸良好的情況下對(duì)其通上直流電流。在測(cè)出顆粒柱的電壓降和顆粒柱的高度后，通過(guò)計(jì)算得出電阻率值。

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